Dimension單光子探測(cè)器操作

科研與工業(yè)場(chǎng)景往往對(duì)設(shè)備體積和安裝方式有嚴(yán)格限制，DL-SPD 系列的小型化設(shè)計(jì)和靈活安裝特性很好地滿足了這一需求。它采用緊湊的模塊化結(jié)構(gòu)，體積遠(yuǎn)小于傳統(tǒng)的單光子探測(cè)系統(tǒng)，能輕松安裝在實(shí)驗(yàn)室的光學(xué)平臺(tái)、工業(yè)設(shè)備的狹小空間內(nèi)，甚至可集成到便攜式檢測(cè)設(shè)備中。在安裝方式上，支持螺絲固定、導(dǎo)軌安裝等多種模式，用戶可根據(jù)實(shí)際需求調(diào)整安裝角度和位置，確保光信號(hào)以比較好角度入射。這種 “小巧 + 靈活” 的設(shè)計(jì)帶來了***優(yōu)勢(shì)：科研人員能在有限的實(shí)驗(yàn)臺(tái)面上搭建復(fù)雜光路；工業(yè)用戶可將其集成到自動(dòng)化生產(chǎn)線，無需為設(shè)備改造額外空間。同時(shí)，輕量化的設(shè)計(jì)也降低了對(duì)安裝結(jié)構(gòu)的承重要求，進(jìn)一步提升了部署的便利性。我國(guó)已實(shí)現(xiàn)四通道深度制冷單光子探測(cè)器量產(chǎn)，暗噪聲低至約 100 Hz。Dimension單光子探測(cè)器操作

DL-SPD 模塊不只是普通檢測(cè)設(shè)備，更是一套高效的工業(yè)弱光質(zhì)檢方案。硬件層面，采用流水線適配結(jié)構(gòu)與抗振動(dòng)設(shè)計(jì)，既能融入生產(chǎn)線檢測(cè)環(huán)節(jié)，又能應(yīng)對(duì)機(jī)械運(yùn)轉(zhuǎn)中的震動(dòng)干擾，適配精密零件表面缺陷、材料內(nèi)部雜質(zhì)等弱光檢測(cè)場(chǎng)景；軟件端，配套的 DL-QC 質(zhì)檢系統(tǒng)支持缺陷自動(dòng)識(shí)別、合格率實(shí)時(shí)統(tǒng)計(jì)，還能聯(lián)動(dòng)產(chǎn)線報(bào)警裝置。無需人工目視篩查，通過自動(dòng)化檢測(cè)流程就能完成質(zhì)量判定，有效提高工業(yè)質(zhì)檢的精度與速度。全場(chǎng)景的優(yōu)化設(shè)計(jì)，讓它成為工業(yè)質(zhì)檢的 “可靠幫手”。Dimension單光子探測(cè)器操作單光子探測(cè)器助力激光雷達(dá)，實(shí)現(xiàn) 1—3.5 公里高度范圍內(nèi)臭氧濃度監(jiān)測(cè)。

在單光子探測(cè)技術(shù)的探索中，Dimension-LabsDL-SPD系列單光子探測(cè)器模塊脫穎而出。它運(yùn)用蓋革模式下工作的單光子雪崩光電二極管，擁有超高靈敏度，可對(duì)微弱的單個(gè)光子進(jìn)行有效探測(cè)，工作波長(zhǎng)覆蓋400-1700nm，滿足可見光至近紅外波段的探測(cè)需求。650nm波長(zhǎng)處60%的探測(cè)效率，100Hz低暗計(jì)數(shù)、20MHz高計(jì)數(shù)率和1%的后脈沖概率，展現(xiàn)出強(qiáng)大的性能優(yōu)勢(shì)。支持空間光和光纖光雙輸入，體積小巧且安裝便捷，針對(duì)籠式系統(tǒng)結(jié)構(gòu)優(yōu)化，簡(jiǎn)化光路搭建復(fù)雜度，無論是科研實(shí)驗(yàn)還是工業(yè)生產(chǎn)，都能輕松勝任。配套DL-SPC系列單光子計(jì)數(shù)器以及相應(yīng)的專業(yè)軟件系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)微弱光信號(hào)的實(shí)時(shí)檢測(cè)與深度分析，以多樣的專業(yè)圖表形式清晰呈現(xiàn)數(shù)據(jù)。

工業(yè)自動(dòng)化場(chǎng)景對(duì)探測(cè)器的耐久性、抗干擾性與響應(yīng)速度提出嚴(yán)苛要求。DL-SPD模塊針對(duì)工業(yè)環(huán)境優(yōu)化設(shè)計(jì)，雙層屏蔽抗干擾結(jié)構(gòu)有效抵御電磁噪聲，確保在激光加工、半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)、智能裝備定位等場(chǎng)景中穩(wěn)定運(yùn)行。20MHz飽和計(jì)數(shù)率支持高速流水線實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)，搭配1%后脈沖概率，識(shí)別高速運(yùn)動(dòng)物體的微弱反射光信號(hào)，避免漏檢與誤判。無論是新能源電池缺陷檢測(cè)，還是精密器件表面瑕疵篩查，DL-SPD均能以工業(yè)級(jí)可靠性提升產(chǎn)線效率，為智能制造注入“光子級(jí)”檢測(cè)精度。我司研發(fā)的 Si 基單光子探測(cè)器室溫即可工作，成本優(yōu)勢(shì)明顯，可洽談定制化需求。

工業(yè)領(lǐng)域?qū)z測(cè)設(shè)備的穩(wěn)定性、效率和成本控制有嚴(yán)苛要求，DL-SPD 系列憑借綜合性能成為工業(yè)用戶的理想選擇。在半導(dǎo)體制造中，芯片表面的微小缺陷可能導(dǎo)致器件失效，該模塊能探測(cè)到缺陷處反射的微弱光子，實(shí)現(xiàn)納米級(jí)缺陷的早期識(shí)別，降低產(chǎn)品報(bào)廢率；在激光雷達(dá)系統(tǒng)中，可捕捉遠(yuǎn)距離目標(biāo)反射的微弱回波光子，提升雷達(dá)的測(cè)距精度和抗干擾能力，適用于自動(dòng)駕駛、測(cè)繪等領(lǐng)域；在食品藥品檢測(cè)中，通過分析物質(zhì)對(duì)特定波長(zhǎng)光子的吸收和散射特性，能快速鑒別成分純度和是否存在污染物，檢測(cè)速度比傳統(tǒng)方法提升數(shù)倍。這些應(yīng)用不僅提升了工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)量，也降低了檢測(cè)成本，為產(chǎn)業(yè)升級(jí)提供了技術(shù)支撐?；诔瑢?dǎo)、雪崩光電二極管等技術(shù)，單光子探測(cè)器在微弱光檢測(cè)領(lǐng)域表現(xiàn)突出。國(guó)產(chǎn)單光子探測(cè)器案例

寬禁帶半導(dǎo)體材料因熱導(dǎo)率高、抗輻射強(qiáng)，成新型紫外單光子探測(cè)器理想選擇。Dimension單光子探測(cè)器操作

在科研領(lǐng)域，微弱光信號(hào)的捕捉精度直接影響實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的可靠性。DL-SPD模塊憑借單光子級(jí)靈敏度，成為量子光學(xué)、光通信、生物醫(yī)學(xué)等實(shí)驗(yàn)室的工具。其空間光與光纖光雙輸入模式適配多種光路架構(gòu)，配合緊湊體積與籠式系統(tǒng)兼容性，大幅簡(jiǎn)化光路搭建流程。自研DL-SPC系列單光子計(jì)數(shù)器與專業(yè)分析軟件，支持實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集與可視化處理，可快速生成折線圖、柱狀圖等專業(yè)圖表，助力科研人員直觀分析光子分布規(guī)律。從單光子源特性研究到熒光壽命成像，DL-SPD以高信噪比與寬光譜適應(yīng)性，助力科研突破進(jìn)入“光子級(jí)”時(shí)代。Dimension單光子探測(cè)器操作