YuanStem 20多能干細胞培養(yǎng)基使用說明書
YuanStem 20多能干細胞培養(yǎng)基
YuanStem 8多能干細胞培養(yǎng)基
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MOS管的開關損耗計算在太陽能逆變器設計中是關鍵環(huán)節(jié)。逆變器需要將太陽能電池板產(chǎn)生的直流電轉(zhuǎn)換為交流電,轉(zhuǎn)換效率直接影響發(fā)電收益,而開關損耗占總損耗的比例可達30%以上。計算開關損耗時,不能只看datasheet上的典型值,還要考慮實際工作電壓、電流和溫度的影響。比如在正午陽光強烈時,輸入電壓升高,開關損耗會隨之增加,這時候需要通過降低開關頻率來減少損耗。工程師會建立損耗模型,模擬不同光照條件下的損耗變化,從而確定的工作參數(shù)。?MOS管的閾值電壓是關鍵參數(shù),低于這個值就沒法導通。mos管型號大全

MOS管的反向耐壓參數(shù)在橋式電路中尤為重要。比如在H橋電機驅(qū)動電路中,當上下兩個MOS管交替開關時,關斷的MOS管會承受電源電壓和電機反電動勢的疊加電壓,這時候反向耐壓不足就會直接擊穿。設計時除了要選對耐壓值,還得在橋臂兩端并聯(lián)吸收電容,用來吸收反向電動勢產(chǎn)生的尖峰電壓。調(diào)試階段,用示波器觀察MOS管兩端的電壓波形是必不可少的步驟,很多潛在問題都能通過波形細節(jié)發(fā)現(xiàn),比如尖峰過高可能就是吸收電路設計不合理。MOS管的靜態(tài)漏電流是低功耗設備的關鍵考量因素。在物聯(lián)網(wǎng)傳感器這類電池供電的設備中,待機電流往往要求控制在微安級別,這時候MOS管的靜態(tài)漏電流就不能太大,否則會嚴重縮短電池壽命。有些型號的MOS管在關斷狀態(tài)下的漏電流能做到10納安以下,非常適合長待機場景。不過漏電流會隨溫度升高而增大,在高溫環(huán)境下使用時,還得重新評估待機功耗,必要時采用多級開關設計,進一步降低靜態(tài)損耗。mos管型號大全MOS管的結(jié)溫不能超過額定值,否則會損壞。

MOS管在便攜式醫(yī)療設備的電源管理中,需要兼顧低功耗和快速響應。心電圖機、血糖儀等設備通常用電池供電,待機功耗必須控制在微瓦級別,這就要求MOS管在關斷時的漏電流極小,導通時的電阻也要小,減少工作功耗。同時,這些設備需要快速啟動,從待機到工作狀態(tài)的切換時間不能超過100毫秒,這就要求MOS管的柵極電容小,能快速導通。工程師會在電源管理芯片中集成專門的MOS管驅(qū)動電路,優(yōu)化柵極電壓的上升速度,在保證低功耗的同時滿足快速響應的需求。實際使用中,還會通過軟件控制,讓MOS管在不工作的時間段完全關斷,進一步降低能耗。?
MOS管的靜態(tài)柵極漏電流對長時間關斷的電路很關鍵。在遠程抄表系統(tǒng)的控制模塊中,設備大部分時間處于休眠狀態(tài),只有定期被喚醒工作,這就要求休眠時的功耗極低。如果MOS管的柵極漏電流過大,即使處于關斷狀態(tài),也會消耗一定的電流,長期下來會耗盡電池。選用柵極漏電流在1nA以下的MOS管,能延長電池壽命。實際設計中,還會在柵極和地之間接一個下拉電阻,確保在休眠時柵極電壓穩(wěn)定為0V,避免因漏電流積累導致誤導通。工程師會用高精度電流表測量休眠狀態(tài)的總電流,其中MOS管的漏電流是重點監(jiān)測對象。?MOS管在數(shù)控設備電源中,抗干擾能力強不易受信號影響。

MOS管的柵極電荷參數(shù)直接影響驅(qū)動電路的設計。柵極電荷大的MOS管需要更大的驅(qū)動電流才能快速開關,這時候驅(qū)動電路的功率消耗也會增加。在便攜式設備中,為了降低功耗,往往會選用柵極電荷小的MOS管,哪怕導通電阻稍大一些也可以接受;而在大功率設備中,柵極電荷的大小可能不是主要問題,更重要的是導通電阻和散熱性能。計算驅(qū)動電路的功耗時,要考慮柵極電荷和開關頻率的乘積,這個數(shù)值越大,驅(qū)動電路需要提供的功率就越高,必要時得單獨為驅(qū)動電路設計散熱措施。?MOS管的柵極不能懸空,否則容易受靜電影響被擊穿。mos管型號大全
MOS管的導通電阻隨溫度變化,高溫時要考慮降額使用。mos管型號大全
MOS管的封裝引腳布局影響PCB設計的復雜度。在高頻電路中,引腳之間的寄生電感和電容會對信號產(chǎn)生很大干擾,比如TO-263封裝的MOS管,漏極和源極引腳之間的距離較近,寄生電容相對較大,在兆赫茲級別的開關電路中可能會出現(xiàn)額外的損耗。而DFN封裝的MOS管由于沒有引線引腳,寄生參數(shù)更小,非常適合高頻應用,不過這種封裝的焊接難度較大,需要精確控制回流焊的溫度曲線。工程師在布局時,通常會把MOS管盡量靠近負載,減少大電流路徑的長度,降低線路損耗。?mos管型號大全