安徽自動化Mapping Inkless解決方案

一套高效的良率管理系統(tǒng)開發(fā)方案，必須根植于真實(shí)生產(chǎn)場景的數(shù)據(jù)流與決策鏈。YMS方案覆蓋從ETS88、93k、J750等Tester平臺自動采集stdf、csv、log等多格式數(shù)據(jù)，到解析、清洗、整合的完整鏈路，確保數(shù)據(jù)源頭的完整性與一致性。在此基礎(chǔ)上，系統(tǒng)構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，實(shí)現(xiàn)對良率信息的統(tǒng)一分類與高效調(diào)用。分析層面，方案強(qiáng)調(diào)時(shí)間序列下的良率波動追蹤與晶圓空間維度的缺陷聚類，結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)變化，形成從現(xiàn)象到根因的完整證據(jù)鏈。SYL與SBL的自動卡控機(jī)制嵌入關(guān)鍵控制點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)預(yù)防性質(zhì)量管理。同時(shí)，報(bào)表引擎支持按需生成周期報(bào)告，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，適配不同管理層的信息消費(fèi)習(xí)慣。上海偉諾信息科技有限公司依托多年行業(yè)積累，將YMS方案打造為兼具實(shí)用性與擴(kuò)展性的國產(chǎn)選擇。上海偉諾信息科技Mapping Over Ink功能，能有效地幫助用戶提升芯片制造零缺陷。安徽自動化Mapping Inkless解決方案

在半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司或封測廠面臨多源測試數(shù)據(jù)難以統(tǒng)一管理的挑戰(zhàn)時(shí)，YMS良率管理系統(tǒng)提供了一套端到端的解決方案。系統(tǒng)自動對接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等主流Tester平臺，采集stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式原始數(shù)據(jù)，并完成重復(fù)性檢測、缺失值識別與異常過濾，確保分析基礎(chǔ)可靠。通過標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫對數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類，企業(yè)可從時(shí)間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植迹焖俣ㄎ还に嚠惓?。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動分析，進(jìn)一步揭示影響良率的根本原因。SYL與SBL的自動計(jì)算與卡控機(jī)制強(qiáng)化了過程質(zhì)量防線，而靈活的報(bào)表工具支持按模板生成日報(bào)、周報(bào)、月報(bào)，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF格式，滿足跨層級決策需求。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續(xù)打磨YMS系統(tǒng)，助力客戶構(gòu)建自主可控的良率管理能力。內(nèi)蒙古可視化MappingOverInk處理系統(tǒng)定制Mapping Over Ink處理系統(tǒng)與MES、SPC平臺實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)聯(lián)動，構(gòu)建智能化質(zhì)量管理閉環(huán)。

ZPAT 是一種基于統(tǒng)計(jì)學(xué)的芯片篩選技術(shù)，通過在晶圓測試階段識別并剔除具有潛在缺陷的芯片，從而提升產(chǎn)品的可靠性。在實(shí)際的應(yīng)用過程中需要通過疊加多片Wafer找出在同一坐標(biāo)下失效的Die的比例，通過特定的算法從而評估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質(zhì)量零缺陷的一種手段。

為助力客戶應(yīng)對日益嚴(yán)苛的“零缺陷”質(zhì)量挑戰(zhàn)，上海偉諾信息科技有限公司將其先進(jìn)的ZPAT技術(shù)深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創(chuàng)新集成賦予用戶高度的靈活性與強(qiáng)大的分析能力，使其能夠通過一套高度可配置的流程，精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數(shù)超出統(tǒng)計(jì)控制界限的異常芯片，從而構(gòu)筑起一道基于動態(tài)統(tǒng)計(jì)過程控制的智能質(zhì)量防線。

當(dāng)CP良率驟降而FT失敗模式復(fù)雜時(shí)，只靠單一測試階段數(shù)據(jù)難以歸因。YMS系統(tǒng)將WAT、CP與FT參數(shù)統(tǒng)一納入分析框架，建立跨階段關(guān)聯(lián)模型。例如，若某批次WAT中柵氧擊穿電壓偏移，同時(shí)CP漏電流異常升高，YMS可自動關(guān)聯(lián)兩者趨勢，提示前道氧化工藝可能存在波動。圖形化界面支持并排查看參數(shù)曲線與良率變化，快速鎖定關(guān)鍵影響因子，避免在封裝或測試環(huán)節(jié)盲目排查。這種端到端的根因分析能力，將問題診斷周期從數(shù)天縮短至數(shù)小時(shí)，減少試產(chǎn)浪費(fèi)。上海偉諾信息科技有限公司通過深度整合多源測試數(shù)據(jù)，使YMS成為良率攻關(guān)的關(guān)鍵工具。Mapping Inkless特別適用于潔凈度要求高的車規(guī)級場景，保障晶圓表面完整性。

面對半導(dǎo)體生產(chǎn)現(xiàn)場，車間良率管理系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了對制造過程的實(shí)時(shí)洞察與動態(tài)調(diào)控。系統(tǒng)自動匯聚來自各類測試設(shè)備的原始數(shù)據(jù)，經(jīng)智能解析后形成結(jié)構(gòu)化數(shù)據(jù)庫，支撐對各工序、各時(shí)段良率表現(xiàn)的即時(shí)追蹤。管理者可通過可視化圖表快速識別產(chǎn)線瓶頸、異常波動或區(qū)域性缺陷，及時(shí)干預(yù)以減少損失。系統(tǒng)不僅支持按需生成標(biāo)準(zhǔn)化報(bào)告，還可導(dǎo)出多種格式，適配車間操作與高層管理的不同使用場景。這種數(shù)據(jù)透明化機(jī)制，明顯提升了生產(chǎn)過程的可控性與響應(yīng)速度。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導(dǎo)體制造流程的深刻理解，將YMS打造為連接設(shè)備數(shù)據(jù)與管理決策的高效橋梁。高價(jià)值芯片生產(chǎn)依賴Mapping Over Ink處理的精確剔除，保障關(guān)鍵器件可靠性。安徽自動化Mapping Inkless解決方案

Mapping Inkless實(shí)現(xiàn)無物理噴墨的邏輯剔除，避免傳統(tǒng)標(biāo)記對先進(jìn)封裝的干擾。安徽自動化Mapping Inkless解決方案

標(biāo)準(zhǔn)化良率管理系統(tǒng)難以覆蓋不同企業(yè)的工藝路徑與管理重點(diǎn)，定制化成為提升系統(tǒng)價(jià)值的關(guān)鍵路徑。YMS支持根據(jù)客戶實(shí)際使用的測試平臺組合、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)及分析維度進(jìn)行功能適配，例如針對特定封裝流程優(yōu)化缺陷分類邏輯，或?yàn)楦哳l監(jiān)控場景開發(fā)專屬看板。系統(tǒng)底層架構(gòu)保持統(tǒng)一，上層應(yīng)用則靈活可調(diào)，既保障數(shù)據(jù)治理規(guī)范性，又滿足業(yè)務(wù)個(gè)性化需求。定制內(nèi)容包括但不限于報(bào)表模板、卡控閾值、導(dǎo)出格式及用戶權(quán)限體系，確保系統(tǒng)與現(xiàn)有工作流無縫融合。通過前期深度調(diào)研與迭代式交付，定制方案能精確匹配客戶在良率提升、異常預(yù)警或合規(guī)追溯等方面的目標(biāo)。上海偉諾信息科技有限公司將定制服務(wù)視為價(jià)值共創(chuàng)過程，以技術(shù)靈活性支撐客戶業(yè)務(wù)獨(dú)特性。安徽自動化Mapping Inkless解決方案

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實(shí)力背景、信譽(yù)可靠、勵精圖治、展望未來、有夢想有目標(biāo)，有組織有體系的公司，堅(jiān)持于帶領(lǐng)員工在未來的道路上大放光明，攜手共畫藍(lán)圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎(chǔ)，也希望未來公司能成為*****，努力為行業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展奉獻(xiàn)出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強(qiáng)不息，斗志昂揚(yáng)的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創(chuàng)佳績，一直以來，公司貫徹執(zhí)行科學(xué)管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠實(shí)守信的方針，員工精誠努力，協(xié)同奮取，以品質(zhì)、服務(wù)來贏得市場，我們一直在路上！