在半導(dǎo)體制造中，晶圓廠制程的任何微小變動，都可能引起良率與可靠性的風險。其中，一個尤為典型的系統(tǒng)性失效模式，便源于光刻環(huán)節(jié)的Reticle（光罩）。當Reticle本身存在污染、劃傷或設(shè)計瑕疵時，或當光刻機在步進重復(fù)曝光過程中出現(xiàn)參數(shù)漂移（如焦距不準、曝光能量不均）時。這些因Reticle問題而產(chǎn)生的特定區(qū)域內(nèi)的芯片，實質(zhì)上構(gòu)成了一個高風險的“潛伏失效群體”。若不能在測試階段被精確識別并剔除，將直接流向客戶端，對產(chǎn)品的長期可靠性與品牌聲譽構(gòu)成嚴重威脅。識別并處理這類與Reticle強相關(guān)的潛在缺陷，是現(xiàn)代高可靠性質(zhì)量管理中一項極具挑戰(zhàn)性的關(guān)鍵任務(wù)。 上海偉諾信息科技有限公司在Mapp...

在半導(dǎo)體制造的后段工藝流程中，對晶圓測試（CP）階段生成的Mapping圖進行PAT（Part Average Testing）處理，已成為一項常規(guī)且至關(guān)重要的質(zhì)量管控手段。該技術(shù)的價值在于運用統(tǒng)計方法，識別并剔除那些雖未超出規(guī)格界限但表現(xiàn)異常的“潛在缺陷”芯片，從而在封裝前有效提升產(chǎn)品的良率與可靠性。上海偉諾信息科技有限公司的Mapping Over Ink處理方案，正是這一先進質(zhì)量理念的踐行者。該方案嚴格遵循AEC-Q100等車規(guī)級認證標準，不僅提供標準PAT功能，更針對高可靠性應(yīng)用的嚴苛要求，內(nèi)置了SPAT與DPAT等處理模式。通過對測試參數(shù)進行多維度、智能化的異常分析，偉諾方案能有效提...

Mapping Over Ink是一套在晶圓測試（CP）后，對電性測試圖譜進行智能分析、處理，并直接驅(qū)動探針臺對特定芯片進行噴墨打點的自動化系統(tǒng)。它將各種分析算法（如ZPAT, GDBN）得出的“失效判定”轉(zhuǎn)化為物理世界中的行動——將不良品標記出來，使其在后續(xù)封裝中被剔除。其重點是預(yù)見性地剔除所有潛在缺陷芯片，而不僅是那些已經(jīng)明確失效的。也是提升芯片零缺陷的一種重要方式。 上海偉諾信息科技有限公司作為半導(dǎo)體測試領(lǐng)域的解決方案供應(yīng)商，致力于為國內(nèi)外半導(dǎo)體設(shè)計公司與晶圓測試廠提供一站式的 Mapping Over Ink 整體解決方案。我們的平臺集成了業(yè)界前沿、專業(yè)的數(shù)據(jù)分析與處理模塊，...

面對半導(dǎo)體生產(chǎn)現(xiàn)場，車間良率管理系統(tǒng)實現(xiàn)了對制造過程的實時洞察與動態(tài)調(diào)控。系統(tǒng)自動匯聚來自各類測試設(shè)備的原始數(shù)據(jù)，經(jīng)智能解析后形成結(jié)構(gòu)化數(shù)據(jù)庫，支撐對各工序、各時段良率表現(xiàn)的即時追蹤。管理者可通過可視化圖表快速識別產(chǎn)線瓶頸、異常波動或區(qū)域性缺陷，及時干預(yù)以減少損失。系統(tǒng)不僅支持按需生成標準化報告，還可導(dǎo)出多種格式，適配車間操作與高層管理的不同使用場景。這種數(shù)據(jù)透明化機制，明顯提升了生產(chǎn)過程的可控性與響應(yīng)速度。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導(dǎo)體制造流程的深刻理解，將YMS打造為連接設(shè)備數(shù)據(jù)與管理決策的高效橋梁。Mapping Over Ink處理推動數(shù)據(jù)驅(qū)動決策，取代經(jīng)驗式質(zhì)量判斷?？梢暬疓D...

在智能制造轉(zhuǎn)型背景下，YMS已不僅是數(shù)據(jù)分析工具，更是連接測試與工藝優(yōu)化的中樞系統(tǒng)。系統(tǒng)實時匯聚來自ETS364、STS8107、93k等平臺的測試結(jié)果，自動完成結(jié)構(gòu)化清洗與整合，消除信息孤島。標準化數(shù)據(jù)庫支持動態(tài)監(jiān)控良率變化，例如識別某機臺連續(xù)三批邊緣區(qū)域良率偏低，觸發(fā)設(shè)備校準預(yù)警。SYL/SBL卡控功能則在指標超限時自動攔截異常批次，防止不良品流入下一環(huán)節(jié)。報表引擎支持按產(chǎn)品線、客戶或班次生成定制化報告，適配不同管理層的信息需求。這種“采集—分析—干預(yù)—反饋”的閉環(huán)機制，明顯提升了生產(chǎn)過程的可控性與響應(yīng)速度。上海偉諾信息科技有限公司以打造中國半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命，持續(xù)完善YMS的集成能力。...

晶圓級良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動對接ASL1000、TR6850、MS7000、SineTest等設(shè)備，實時匯聚原始測試結(jié)果并完成結(jié)構(gòu)化清洗，消除人工干預(yù)帶來的延遲與誤差。系統(tǒng)以圖表形式直觀呈現(xiàn)晶圓熱力圖，清晰展示邊緣、中心或象限區(qū)域的良率差異，輔助工程師判斷光刻、刻蝕或沉積環(huán)節(jié)的均勻性問題。當某批次CP良率異常時，可聯(lián)動WAT參數(shù)變化追溯前道工藝漂移，實現(xiàn)從前端到后端的全鏈路追溯。多周期報表自動生成并支持多格式導(dǎo)出，滿足從產(chǎn)線到高管的信息消費習慣。這種深度可視化與智能關(guān)聯(lián)分析能力，使良率管理從經(jīng)驗驅(qū)動轉(zhuǎn)向數(shù)據(jù)驅(qū)動。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導(dǎo)體制造...

芯片制造對良率控制的精度要求極高，YMS系統(tǒng)為此提供了從數(shù)據(jù)采集到根因分析的一站式解決方案。系統(tǒng)兼容多種測試平臺輸出的多格式文件，自動完成數(shù)據(jù)清洗與整合，確保從晶圓到單顆芯片的全鏈路數(shù)據(jù)一致性。通過關(guān)聯(lián)WAT、CP、FT等階段的關(guān)鍵參數(shù)，系統(tǒng)可精確識別導(dǎo)致良率下降的工藝或設(shè)計問題，并以圖表形式展現(xiàn)芯片級缺陷分布與趨勢變化。靈活的報表引擎支持按周期自動生成分析簡報，便于跨部門協(xié)同與持續(xù)改進。這種精細化的數(shù)據(jù)治理能力，使企業(yè)在激烈競爭中保持質(zhì)量優(yōu)勢。上海偉諾信息科技有限公司致力于用專業(yè)軟件能力賦能中國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)，其YMS系統(tǒng)已成為多家客戶提升產(chǎn)品競爭力的重要工具。多輪重測數(shù)據(jù)動態(tài)更新Mapping...

一套高效的良率管理系統(tǒng)開發(fā)方案，必須根植于真實生產(chǎn)場景的數(shù)據(jù)流與決策鏈。YMS方案覆蓋從ETS88、93k、J750等Tester平臺自動采集stdf、csv、log等多格式數(shù)據(jù)，到解析、清洗、整合的完整鏈路，確保數(shù)據(jù)源頭的完整性與一致性。在此基礎(chǔ)上，系統(tǒng)構(gòu)建標準化數(shù)據(jù)庫，實現(xiàn)對良率信息的統(tǒng)一分類與高效調(diào)用。分析層面，方案強調(diào)時間序列下的良率波動追蹤與晶圓空間維度的缺陷聚類，結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)變化，形成從現(xiàn)象到根因的完整證據(jù)鏈。SYL與SBL的自動卡控機制嵌入關(guān)鍵控制點，實現(xiàn)預(yù)防性質(zhì)量管理。同時，報表引擎支持按需生成周期報告，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，適配不同管理層的信息消費...

在半導(dǎo)體制造中，晶圓廠制程的任何微小變動，都可能引起良率與可靠性的風險。其中，一個尤為典型的系統(tǒng)性失效模式，便源于光刻環(huán)節(jié)的Reticle（光罩）。當Reticle本身存在污染、劃傷或設(shè)計瑕疵時，或當光刻機在步進重復(fù)曝光過程中出現(xiàn)參數(shù)漂移（如焦距不準、曝光能量不均）時。這些因Reticle問題而產(chǎn)生的特定區(qū)域內(nèi)的芯片，實質(zhì)上構(gòu)成了一個高風險的“潛伏失效群體”。若不能在測試階段被精確識別并剔除，將直接流向客戶端，對產(chǎn)品的長期可靠性與品牌聲譽構(gòu)成嚴重威脅。識別并處理這類與Reticle強相關(guān)的潛在缺陷，是現(xiàn)代高可靠性質(zhì)量管理中一項極具挑戰(zhàn)性的關(guān)鍵任務(wù)。 上海偉諾信息科技有限公司在Mapp...

分散在不同Excel表格或本地數(shù)據(jù)庫中的測試數(shù)據(jù)，往往難以跨項目調(diào)用和對比。YMS通過構(gòu)建標準化數(shù)據(jù)庫，將來自ETS364、SineTest、MS7000、CTA8280等設(shè)備的異構(gòu)數(shù)據(jù)，按產(chǎn)品型號、測試階段、時間、區(qū)域等維度統(tǒng)一歸檔，形成結(jié)構(gòu)清晰、索引完備的數(shù)據(jù)資產(chǎn)池。用戶可通過多條件組合快速檢索特定批次的歷史良率記錄，或橫向比較不同封裝線的表現(xiàn)。標準化存儲不僅提升查詢效率，更為WAT/CP/FT參數(shù)聯(lián)動分析、SYL/SBL卡控等高級功能提供一致數(shù)據(jù)源。跨部門協(xié)作時，設(shè)計、工藝與質(zhì)量團隊可基于同一套數(shù)據(jù)開展討論，減少信息偏差。上海偉諾信息科技有限公司依托行業(yè)經(jīng)驗，使YMS成為企業(yè)構(gòu)建數(shù)據(jù)驅(qū)動...

在封測工廠的日常運營中，良率波動往往源于測試數(shù)據(jù)分散、格式不一或異常信息未被及時識別。YMS系統(tǒng)自動對接ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺，高效采集stdf、csv、log、txt等多種格式的原始測試數(shù)據(jù)，并完成重復(fù)性檢測、缺失值識別與異常數(shù)據(jù)過濾，確保后續(xù)分析基于準確、完整的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。通過標準化數(shù)據(jù)庫對數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類，系統(tǒng)支持從時間序列追蹤良率趨勢，或從晶圓區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植?，快速定位工藝偏差。SYL與SBL參數(shù)的自動計算與卡控機制，進一步強化了質(zhì)量防線。靈活的報表工具可按模板生成日報、周報、月報，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，滿足從產(chǎn)線到管理層的信息需求。上...

良率異常若依賴人工逐項排查，常需跨多個系統(tǒng)比對數(shù)據(jù)，耗時且易遺漏關(guān)鍵線索。YMS自動匯聚來自Chroma、STS8200、ASL1000等平臺的測試結(jié)果，構(gòu)建統(tǒng)一數(shù)據(jù)庫，并以熱力圖、趨勢曲線等形式直觀展示缺陷分布與良率波動。當某批次FT良率下降時，工程師可快速調(diào)取對應(yīng)CP參數(shù)與晶圓區(qū)域熱圖，判斷是否為特定象限的打線偏移所致。WAT參數(shù)的同步關(guān)聯(lián)更可追溯至前道工藝漂移。這種“一站式”可視化分析，使根因定位從數(shù)天縮短至數(shù)小時內(nèi)，大幅減少試錯成本。上海偉諾信息科技有限公司依托多維數(shù)據(jù)整合能力，讓YMS成為快速響應(yīng)質(zhì)量問題的關(guān)鍵工具。Mapping Over Ink處理通過失效分布圖譜直觀暴露制造流程...

晶圓邊緣區(qū)域良率持續(xù)偏低卻難以定位原因，是工藝工程師常見的痛點。YMS系統(tǒng)在完成stdf、log等原始數(shù)據(jù)清洗后，依據(jù)晶圓空間坐標對缺陷進行分類，生成色彩漸變的熱力圖，直觀呈現(xiàn)中心、過渡區(qū)與邊緣的缺陷密度差異。用戶可對比不同批次在同一區(qū)域的表現(xiàn)，識別是否為光刻對焦偏差或刻蝕均勻性問題所致。疊加時間維度后，還能判斷該現(xiàn)象是偶發(fā)異常還是系統(tǒng)性漂移。這種空間+時間的雙維分析，使優(yōu)化措施從“整體調(diào)整”轉(zhuǎn)向“精確干預(yù)”，明顯提升工藝調(diào)試效率。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實際需求，將YMS打造為缺陷定位的可視化利器。上海偉諾信息科技DPAT功能，通過結(jié)合測試數(shù)據(jù)去除超出規(guī)范的芯片并生成新的Ma...

一套高效的良率管理系統(tǒng)開發(fā)方案，必須根植于真實生產(chǎn)場景的數(shù)據(jù)流與決策鏈。YMS方案覆蓋從ETS88、93k、J750等Tester平臺自動采集stdf、csv、log等多格式數(shù)據(jù)，到解析、清洗、整合的完整鏈路，確保數(shù)據(jù)源頭的完整性與一致性。在此基礎(chǔ)上，系統(tǒng)構(gòu)建標準化數(shù)據(jù)庫，實現(xiàn)對良率信息的統(tǒng)一分類與高效調(diào)用。分析層面，方案強調(diào)時間序列下的良率波動追蹤與晶圓空間維度的缺陷聚類，結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)變化，形成從現(xiàn)象到根因的完整證據(jù)鏈。SYL與SBL的自動卡控機制嵌入關(guān)鍵控制點，實現(xiàn)預(yù)防性質(zhì)量管理。同時，報表引擎支持按需生成周期報告，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，適配不同管理層的信息消費...

良率波動若只憑單點數(shù)據(jù)判斷，容易誤判趨勢。YMS系統(tǒng)將每日、每周、每月的測試結(jié)果按時間序列歸檔，生成連續(xù)良率曲線，并以折線圖、熱力圖等形式直觀呈現(xiàn)變化規(guī)律。當某產(chǎn)品線周良率從98%驟降至95%時，系統(tǒng)不僅高亮異常區(qū)間，還可聯(lián)動同期WAT參數(shù)漂移或設(shè)備維護記錄，輔助判斷是否為工藝變更所致。管理層可按日粒度監(jiān)控關(guān)鍵產(chǎn)品，工程師則可深入分析小時級波動以優(yōu)化機臺參數(shù)。這種動態(tài)追蹤能力，使質(zhì)量干預(yù)從事后追溯轉(zhuǎn)向事中預(yù)警。結(jié)合靈活報表工具，時間維度分析結(jié)果可一鍵導(dǎo)出為PPT或PDF，用于晨會或客戶匯報。上海偉諾信息科技有限公司通過YMS的時間序列分析功能，助力客戶實現(xiàn)精細化過程管控。Mapping Ove...

在半導(dǎo)體制造的后段工藝流程中，對晶圓測試（CP）階段生成的Mapping圖進行PAT（Part Average Testing）處理，已成為一項常規(guī)且至關(guān)重要的質(zhì)量管控手段。該技術(shù)的價值在于運用統(tǒng)計方法，識別并剔除那些雖未超出規(guī)格界限但表現(xiàn)異常的“潛在缺陷”芯片，從而在封裝前有效提升產(chǎn)品的良率與可靠性。上海偉諾信息科技有限公司的Mapping Over Ink處理方案，正是這一先進質(zhì)量理念的踐行者。該方案嚴格遵循AEC-Q100等車規(guī)級認證標準，不僅提供標準PAT功能，更針對高可靠性應(yīng)用的嚴苛要求，內(nèi)置了SPAT與DPAT等處理模式。通過對測試參數(shù)進行多維度、智能化的異常分析，偉諾方案能有效提...

車間管理者需要的是能即時反映產(chǎn)線狀態(tài)的良率監(jiān)控工具，而非復(fù)雜的數(shù)據(jù)平臺。YMS車間方案聚焦高頻、高敏場景，自動匯聚來自現(xiàn)場Tester設(shè)備的測試結(jié)果，并實時進行數(shù)據(jù)清洗與異常過濾，確?？窗逭故镜男畔蚀_有效。通過標準化數(shù)據(jù)庫，系統(tǒng)支持按班次、機臺或產(chǎn)品型號動態(tài)呈現(xiàn)良率熱力圖與缺陷分布，幫助班組長在交接班前快速識別異常批次。當某區(qū)域連續(xù)出現(xiàn)低良率時，系統(tǒng)可聯(lián)動CP與FT數(shù)據(jù)判斷是否為共性工藝問題，并觸發(fā)預(yù)警。日報、周報自動生成并支持多格式導(dǎo)出，減少手工填報負擔。這種“輕部署、快響應(yīng)、強落地”的設(shè)計思路，使良率管理真正融入日常生產(chǎn)節(jié)奏。上海偉諾信息科技有限公司基于對封測工廠運作邏輯的深刻洞察，持續(xù)...

芯片制造對良率控制的顆粒度要求極高，任何微小偏差都可能造成重大損失。YMS系統(tǒng)通過自動接入各類Tester平臺產(chǎn)生的多格式測試數(shù)據(jù)，完成高精度的數(shù)據(jù)解析與整合，確保從晶圓到單顆芯片的良率信息真實可靠。系統(tǒng)依托標準化數(shù)據(jù)庫，支持按時間、區(qū)域、批次等多維度進行缺陷聚類與根因追溯，幫助研發(fā)與制造團隊快速響應(yīng)異常。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵節(jié)點數(shù)據(jù)的變化，可深入剖析工藝穩(wěn)定性或設(shè)計兼容性問題。SYL與SBL參數(shù)的自動計算與卡控，為芯片級質(zhì)量提供雙重保障。報表工具支持按模板生成周期報告，并導(dǎo)出為常用辦公格式，提升信息流轉(zhuǎn)效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，專注于半導(dǎo)體系統(tǒng)軟件研發(fā)，其Y...

當多臺測試設(shè)備同時產(chǎn)出異構(gòu)數(shù)據(jù)時，傳統(tǒng)人工整合方式不僅耗時，還易引入誤差。YMS系統(tǒng)通過自動化流程，將來自ETS364、STS8200、TR6850等設(shè)備的spd、jdf、zip等格式數(shù)據(jù)統(tǒng)一解析、清洗并結(jié)構(gòu)化存儲，構(gòu)建一致的數(shù)據(jù)底座。在此基礎(chǔ)上，結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵測試階段的參數(shù)變化，系統(tǒng)能夠揭示影響良率的深層關(guān)聯(lián)，輔助工程師精確調(diào)整工藝窗口。多維度可視化圖表讓晶圓級缺陷熱力圖、批次良率走勢一目了然，明顯縮短問題響應(yīng)周期。報表功能支持按需定制并導(dǎo)出多種辦公格式，提升跨部門協(xié)同效率。SYL/SBL的實時卡控能力，則有效預(yù)防批量性質(zhì)量風險。上海偉諾信息科技有限公司秉持“以信為本，以質(zhì)取勝...

良率管理的目標是將海量測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為可執(zhí)行的工藝洞察。YMS系統(tǒng)通過自動化采集來自各類Tester平臺的多格式數(shù)據(jù)，完成端到端的數(shù)據(jù)清洗與整合，消除人工干預(yù)帶來的誤差與延遲。在此基礎(chǔ)上，系統(tǒng)構(gòu)建標準化數(shù)據(jù)庫，支持從批次級到晶圓級的多維度缺陷分析，例如識別某一時段內(nèi)邊緣區(qū)域良率驟降是否與刻蝕參數(shù)漂移相關(guān)。結(jié)合WAT、CP、FT數(shù)據(jù)的交叉驗證，可區(qū)分設(shè)計缺陷與制造偏差，縮短問題排查周期。SYL與SBL的自動計算與實時卡控，為關(guān)鍵指標設(shè)置動態(tài)防線。周期性報告一鍵生成并支持PPT、Excel、PDF導(dǎo)出，使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源快速決策。這種從數(shù)據(jù)到行動的閉環(huán)機制，明顯提升了生產(chǎn)過程的可控性與響應(yīng)速度...

面對海量測試數(shù)據(jù)，表格形式難以快速捕捉異常模式。YMS系統(tǒng)將良率與缺陷信息轉(zhuǎn)化為熱力圖、趨勢曲線、散點圖等多種可視化圖表：晶圓熱力圖一眼識別高缺陷區(qū)域，時間序列圖揭示良率波動周期，參數(shù)散點圖暴露非線性關(guān)聯(lián)關(guān)系。例如，通過CP漏電與FT功能失效的散點分布，可判斷是否存在特定電壓下的共性失效機制。圖形化表達降低數(shù)據(jù)分析門檻，使非數(shù)據(jù)專業(yè)人員也能參與質(zhì)量討論。這種“所見即所得”的洞察方式，加速了從數(shù)據(jù)到行動的轉(zhuǎn)化。上海偉諾信息科技有限公司以可視化為關(guān)鍵設(shè)計原則，提升YMS的信息傳達效率與決策支持價值。PAT模塊通過統(tǒng)計方法識別電性參數(shù)異常但功能Pass的單元，剔除隱性風險芯片。江西可視化Mappin...

在半導(dǎo)體制造中，晶圓廠制程的任何微小變動，都可能引起良率與可靠性的風險。其中，一個尤為典型的系統(tǒng)性失效模式，便源于光刻環(huán)節(jié)的Reticle（光罩）。當Reticle本身存在污染、劃傷或設(shè)計瑕疵時，或當光刻機在步進重復(fù)曝光過程中出現(xiàn)參數(shù)漂移（如焦距不準、曝光能量不均）時。這些因Reticle問題而產(chǎn)生的特定區(qū)域內(nèi)的芯片，實質(zhì)上構(gòu)成了一個高風險的“潛伏失效群體”。若不能在測試階段被精確識別并剔除，將直接流向客戶端，對產(chǎn)品的長期可靠性與品牌聲譽構(gòu)成嚴重威脅。識別并處理這類與Reticle強相關(guān)的潛在缺陷，是現(xiàn)代高可靠性質(zhì)量管理中一項極具挑戰(zhàn)性的關(guān)鍵任務(wù)。 上海偉諾信息科技有限公司在Mapp...

作為國產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)的重要建設(shè)者，YMS系統(tǒng)的開發(fā)始終圍繞真實生產(chǎn)痛點展開。系統(tǒng)兼容主流Tester平臺，自動處理stdf、csv、log等十余種數(shù)據(jù)格式，完成從采集、清洗到整合的全流程自動化，消除信息孤島。其分析引擎支持多維度交叉比對，例如將晶圓邊緣良率偏低現(xiàn)象與刻蝕設(shè)備參數(shù)日志關(guān)聯(lián)，輔助工程師精確歸因。SYL/SBL卡控機制嵌入關(guān)鍵控制點，實現(xiàn)過程質(zhì)量前置管理。配套的報表工具可按模板一鍵生成周期報告，大幅提升跨部門協(xié)同效率。更重要的是，系統(tǒng)背后有完整的售前咨詢、售中方案優(yōu)化與售后標準化服務(wù)體系支撐，確保價值落地。上海偉諾信息科技有限公司依托多年行業(yè)積累，使YMS成為兼具技術(shù)深度與實施可靠...

為滿足日益嚴苛的車規(guī)與工規(guī)質(zhì)量要求，在晶圓測試階段引入三溫乃至多溫測試，已成為篩選高可靠性芯片的標準流程。這一測試旨在模擬芯片在極端環(huán)境下的工作狀態(tài)，通過高溫、常溫、低溫下的全面性能評估，有效剔除對環(huán)境敏感、性能不穩(wěn)定的潛在缺陷品，從而大幅提升產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。因此，如何在海量的多溫測試數(shù)據(jù)中識別并剔除這些因溫度敏感性過高而存在潛在風險的芯片，已成為業(yè)內(nèi)高度關(guān)注并致力解決的關(guān)鍵課題。 為應(yīng)對車規(guī)、工規(guī)產(chǎn)品在多溫測試中面臨的參數(shù)漂移挑戰(zhàn)，上海偉諾信息科技有限公司憑借其深厚的技術(shù)積累，開發(fā)了一套專門用于多溫Drift分析的智能化處理方案。該方案的關(guān)鍵在于，超越傳統(tǒng)的、在各個溫度點進行孤...

在半導(dǎo)體制造中，由于Fab制程的物理與化學特性，晶圓邊緣的芯片（Edge Die）其失效率明顯高于中心區(qū)域。這一現(xiàn)象主要源于幾個關(guān)鍵因素：首先，在光刻、刻蝕、薄膜沉積等工藝中，晶圓邊緣的反應(yīng)氣體流場、溫度場及壓力場分布不均，導(dǎo)致工藝一致性變差；其次，邊緣區(qū)域更容易出現(xiàn)厚度不均、殘留應(yīng)力集中等問題；此外，光刻膠在邊緣的涂覆均勻性也通常較差。這些因素共同導(dǎo)致邊緣芯片的電氣參數(shù)漂移、性能不穩(wěn)定乃至早期失效風險急劇升高。因此，在晶圓測試（CP）的制造流程中，對電性測試圖譜（Wafer Mapping）執(zhí)行“去邊”操作，便成為一項提升產(chǎn)品整體良率與可靠性的關(guān)鍵步驟。 上海偉諾信息科技有限公司Mappin...

良率管理的目標是將海量測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為可執(zhí)行的工藝洞察。YMS系統(tǒng)通過自動化采集來自各類Tester平臺的多格式數(shù)據(jù)，完成端到端的數(shù)據(jù)清洗與整合，消除人工干預(yù)帶來的誤差與延遲。在此基礎(chǔ)上，系統(tǒng)構(gòu)建標準化數(shù)據(jù)庫，支持從批次級到晶圓級的多維度缺陷分析，例如識別某一時段內(nèi)邊緣區(qū)域良率驟降是否與刻蝕參數(shù)漂移相關(guān)。結(jié)合WAT、CP、FT數(shù)據(jù)的交叉驗證，可區(qū)分設(shè)計缺陷與制造偏差，縮短問題排查周期。SYL與SBL的自動計算與實時卡控，為關(guān)鍵指標設(shè)置動態(tài)防線。周期性報告一鍵生成并支持PPT、Excel、PDF導(dǎo)出，使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源快速決策。這種從數(shù)據(jù)到行動的閉環(huán)機制，明顯提升了生產(chǎn)過程的可控性與響應(yīng)速度...

面對國產(chǎn)替代需求，選擇具備技術(shù)自主性和行業(yè)適配能力的良率管理系統(tǒng)廠商至關(guān)重要。上海偉諾信息科技有限公司的YMS系統(tǒng)兼容主流Tester平臺，覆蓋十余種測試數(shù)據(jù)格式，實現(xiàn)從采集、解析到異常過濾的全流程自動化。其分析引擎支持時間序列追蹤、晶圓區(qū)域?qū)Ρ燃癢AT/CP/FT參數(shù)聯(lián)動，精確識別影響良率的關(guān)鍵因素。SYL/SBL卡控與靈活報表導(dǎo)出功能，進一步強化過程管控與決策支持。更重要的是，系統(tǒng)背后有完整的實施與服務(wù)體系支撐，確保從部署到優(yōu)化的每個環(huán)節(jié)可靠落地。這種“軟硬協(xié)同”的能力，使YMS在國產(chǎn)軟件生態(tài)中具備強大競爭力。偉諾依托多年項目積累，持續(xù)驗證其作為本土良率管理解決方案提供者的專業(yè)價值。上海偉...

半導(dǎo)體設(shè)計公司對良率分析的顆粒度要求極高，需兼顧芯片級精度與跨項目可比性。YMS系統(tǒng)支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平臺產(chǎn)生的多格式測試數(shù)據(jù)，完成統(tǒng)一解析與結(jié)構(gòu)化存儲，確保從晶圓到單顆芯片的數(shù)據(jù)鏈完整。系統(tǒng)不僅實現(xiàn)時間趨勢與區(qū)域?qū)Ρ确治觯€能通過WAT參數(shù)漂移預(yù)警潛在設(shè)計風險，輔助早期迭代優(yōu)化。SYL與SBL的自動計算功能，為良率目標達成提供量化依據(jù)；靈活報表引擎則支持按項目、產(chǎn)品線或客戶維度生成分析簡報，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，適配不同匯報場景。這種深度集成的能力，使良率管理從被動響應(yīng)轉(zhuǎn)向主動預(yù)防。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以...

國產(chǎn)良率管理系統(tǒng)的價值在于將碎片化測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為可執(zhí)行的工藝洞察。YMS系統(tǒng)自動對接ASL1000、SineTest、MS7000、CTA8280、T861、Juno、AMIDA等主流設(shè)備，處理十余種格式原始數(shù)據(jù)，確保從晶圓到芯片級的數(shù)據(jù)鏈完整可靠。系統(tǒng)不僅清洗異常記錄，還通過圖表直觀展示良率在不同時間段或晶圓象限的差異。這有助于工程師判斷是否為光刻對準偏差或刻蝕不均所致。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)聯(lián)動分析，可區(qū)分設(shè)計缺陷與制造變異，縮短問題排查周期。這種從“看見異?！钡健袄斫飧颉钡哪芰Γ苿淤|(zhì)量改進從被動響應(yīng)轉(zhuǎn)向主動預(yù)防。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導(dǎo)體制造流程的深入理解，推動YMS成...

傳統(tǒng)良率卡控依賴人工設(shè)定固定閾值，難以適應(yīng)產(chǎn)品迭代或工藝波動。YMS系統(tǒng)基于歷史測試數(shù)據(jù)自動計算SYL（良率下限）與SBL（良率控制線），并根據(jù)統(tǒng)計規(guī)律動態(tài)調(diào)整控制邊界。當某批次實際良率跌破SBL時，系統(tǒng)立即觸發(fā)告警，通知質(zhì)量人員介入；若連續(xù)多批接近SYL，則提示需啟動工藝評審。該機制將質(zhì)量防線前置，防止低良率晶圓流入昂貴的封裝環(huán)節(jié)，有效控制報廢成本。自動計算替代經(jīng)驗估算，確?？貥藴士陀^、一致且可追溯。上海偉諾信息科技有限公司將SYL、SBL自動卡控作為YMS的關(guān)鍵功能，支撐客戶實現(xiàn)過程質(zhì)量的主動管理。GDBC聚類結(jié)果支持根因快速定位，加速工藝問題解決效率。江西自動化GDBC軟件當測試工程師...