在半導(dǎo)體設(shè)計(jì)與制造流程中，良率管理系統(tǒng)的價(jià)值體現(xiàn)在對(duì)復(fù)雜測(cè)試數(shù)據(jù)的高效整合與深度挖掘。系統(tǒng)自動(dòng)對(duì)接多種測(cè)試設(shè)備輸出的異構(gòu)數(shù)據(jù)，完成清洗、去重與結(jié)構(gòu)化處理，構(gòu)建可靠的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。通過(guò)對(duì)WAT、CP、FT等關(guān)鍵工藝節(jié)點(diǎn)參數(shù)的聯(lián)動(dòng)分析，系統(tǒng)能夠揭示潛在的工藝偏差或設(shè)計(jì)缺陷，為研發(fā)和制造團(tuán)隊(duì)提供可執(zhí)行的優(yōu)化建議。多維度圖表直觀呈現(xiàn)良率波動(dòng)與缺陷分布，支持從批次到晶圓級(jí)別的精細(xì)追溯。報(bào)表功能滿足不同管理層級(jí)對(duì)數(shù)據(jù)呈現(xiàn)的多樣化需求，實(shí)現(xiàn)從現(xiàn)場(chǎng)到?jīng)Q策層的信息貫通。上海偉諾信息科技有限公司立足“以信為本，以質(zhì)取勝”的理念，持續(xù)打磨YMS產(chǎn)品，推動(dòng)國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)建設(shè)。Mapping Over Ink處理系統(tǒng)提...

為提升晶圓測(cè)試（CP測(cè)試）的質(zhì)量與可靠性，行業(yè)的關(guān)注點(diǎn)已從單一的電性性能測(cè)試，擴(kuò)展到電性與物理外觀并重的綜合質(zhì)量評(píng)估。因此，越來(lái)越多的公司在CP測(cè)試環(huán)節(jié)中，引入外觀檢測(cè)設(shè)備（AOI,AutomatedOpticalInspection），對(duì)晶圓上每個(gè)Die的表面進(jìn)行高精度、自動(dòng)化的掃描與檢測(cè)，以識(shí)別并剔除那些存在裂紋、劃痕、污染、崩邊或缺損等物理缺陷的不良品。這種做法的價(jià)值在于，它彌補(bǔ)了傳統(tǒng)電性測(cè)試的盲區(qū)。一顆芯片可能電性參數(shù)測(cè)試“通過(guò)”，但其物理結(jié)構(gòu)已存在潛在損傷。這類“帶傷”的芯片在后續(xù)的封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用中有極高早期失效的風(fēng)險(xiǎn)，是產(chǎn)品可靠性的重大隱患。通過(guò)AOI檢測(cè)，可以在晶圓階段就將這...

在智能制造轉(zhuǎn)型背景下，YMS已不僅是數(shù)據(jù)分析工具，更是連接測(cè)試與工藝優(yōu)化的中樞系統(tǒng)。系統(tǒng)實(shí)時(shí)匯聚來(lái)自ETS364、STS8107、93k等平臺(tái)的測(cè)試結(jié)果，自動(dòng)完成結(jié)構(gòu)化清洗與整合，消除信息孤島。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)支持動(dòng)態(tài)監(jiān)控良率變化，例如識(shí)別某機(jī)臺(tái)連續(xù)三批邊緣區(qū)域良率偏低，觸發(fā)設(shè)備校準(zhǔn)預(yù)警。SYL/SBL卡控功能則在指標(biāo)超限時(shí)自動(dòng)攔截異常批次，防止不良品流入下一環(huán)節(jié)。報(bào)表引擎支持按產(chǎn)品線、客戶或班次生成定制化報(bào)告，適配不同管理層的信息需求。這種“采集—分析—干預(yù)—反饋”的閉環(huán)機(jī)制，明顯提升了生產(chǎn)過(guò)程的可控性與響應(yīng)速度。上海偉諾信息科技有限公司以打造中國(guó)半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命，持續(xù)完善YMS的集成能力。...

不同封測(cè)廠的設(shè)備組合、工藝路線和管理重點(diǎn)差異明顯，標(biāo)準(zhǔn)化系統(tǒng)難以滿足全部需求。YMS提供高度可定制的生產(chǎn)良率管理方案，可根據(jù)客戶實(shí)際接入的Tester設(shè)備（如T861、STS8107、MS7000等）和數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，調(diào)整解析邏輯、分析維度與報(bào)表模板。例如，針對(duì)高頻返工場(chǎng)景，可定制缺陷聚類規(guī)則；針對(duì)客戶審計(jì)需求，可開(kāi)發(fā)合規(guī)性報(bào)告模塊。系統(tǒng)底層保持統(tǒng)一數(shù)據(jù)治理規(guī)范，上層應(yīng)用則靈活適配業(yè)務(wù)流程，確保數(shù)據(jù)質(zhì)量與使用效率兼顧。SYL/SBL自動(dòng)計(jì)算與多格式報(bào)表導(dǎo)出功能，進(jìn)一步提升質(zhì)量閉環(huán)速度。這種“量體裁衣”式的服務(wù)模式，使系統(tǒng)真正融入客戶日常運(yùn)營(yíng)。上海偉諾信息科技有限公司將定制開(kāi)發(fā)視為價(jià)值共創(chuàng)過(guò)程，以技術(shù)...

在智能制造轉(zhuǎn)型背景下，YMS已不僅是數(shù)據(jù)分析工具，更是連接測(cè)試與工藝優(yōu)化的中樞系統(tǒng)。系統(tǒng)實(shí)時(shí)匯聚來(lái)自ETS364、STS8107、93k等平臺(tái)的測(cè)試結(jié)果，自動(dòng)完成結(jié)構(gòu)化清洗與整合，消除信息孤島。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)支持動(dòng)態(tài)監(jiān)控良率變化，例如識(shí)別某機(jī)臺(tái)連續(xù)三批邊緣區(qū)域良率偏低，觸發(fā)設(shè)備校準(zhǔn)預(yù)警。SYL/SBL卡控功能則在指標(biāo)超限時(shí)自動(dòng)攔截異常批次，防止不良品流入下一環(huán)節(jié)。報(bào)表引擎支持按產(chǎn)品線、客戶或班次生成定制化報(bào)告，適配不同管理層的信息需求。這種“采集—分析—干預(yù)—反饋”的閉環(huán)機(jī)制，明顯提升了生產(chǎn)過(guò)程的可控性與響應(yīng)速度。上海偉諾信息科技有限公司以打造中國(guó)半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命，持續(xù)完善YMS的集成能力。...

面對(duì)stdf、log、jdf等格式混雜的測(cè)試數(shù)據(jù)流，傳統(tǒng)手工轉(zhuǎn)換不僅耗時(shí)，還易引入人為錯(cuò)誤。YMS系統(tǒng)采用智能解析與清洗技術(shù)，自動(dòng)校驗(yàn)字段一致性，對(duì)缺失或錯(cuò)位字段進(jìn)行邏輯補(bǔ)全或標(biāo)記，確保每條記錄結(jié)構(gòu)完整。系統(tǒng)支持批量歷史數(shù)據(jù)導(dǎo)入與實(shí)時(shí)測(cè)試流同步處理，無(wú)論數(shù)據(jù)來(lái)自ASL1000還是TR6850，均能統(tǒng)一轉(zhuǎn)化為可用于分析的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)集。在此基礎(chǔ)上，異常值被自動(dòng)過(guò)濾，重復(fù)記錄被精確剔除，明顯提升數(shù)據(jù)可信度。這種端到端的自動(dòng)化處理機(jī)制，使工程師無(wú)需再耗費(fèi)數(shù)小時(shí)整理原始文件，而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實(shí)際數(shù)據(jù)特征，構(gòu)建了這一高效可靠的數(shù)據(jù)預(yù)處理體系。Mapping O...

YMS（良率管理系統(tǒng)）的本質(zhì)是將海量測(cè)試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為精確的質(zhì)量決策依據(jù)。系統(tǒng)兼容ETS88、J750、ASL1000、Chroma等主流Tester設(shè)備，自動(dòng)解析stdf、csv、log、jdf等多種格式數(shù)據(jù)，完成端到端的數(shù)據(jù)治理。在此基礎(chǔ)上，通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)實(shí)現(xiàn)時(shí)間序列追蹤與晶圓區(qū)域?qū)Ρ?，例如發(fā)現(xiàn)某批次中心區(qū)域缺陷密度突增，可聯(lián)動(dòng)WAT參數(shù)判斷是否為離子注入劑量漂移所致。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算功能為良率目標(biāo)達(dá)成提供量化基準(zhǔn)，而靈活報(bào)表工具支持一鍵導(dǎo)出PPT、Excel或PDF格式報(bào)告，減少手工整理負(fù)擔(dān)。這種從原始數(shù)據(jù)到管理行動(dòng)的無(wú)縫銜接，極大提升了質(zhì)量團(tuán)隊(duì)的工作效能。上海偉諾信息科技有限公司...

面對(duì)海量測(cè)試數(shù)據(jù)，表格形式難以快速捕捉異常模式。YMS系統(tǒng)將良率與缺陷信息轉(zhuǎn)化為熱力圖、趨勢(shì)曲線、散點(diǎn)圖等多種可視化圖表：晶圓熱力圖一眼識(shí)別高缺陷區(qū)域，時(shí)間序列圖揭示良率波動(dòng)周期，參數(shù)散點(diǎn)圖暴露非線性關(guān)聯(lián)關(guān)系。例如，通過(guò)CP漏電與FT功能失效的散點(diǎn)分布，可判斷是否存在特定電壓下的共性失效機(jī)制。圖形化表達(dá)降低數(shù)據(jù)分析門檻，使非數(shù)據(jù)專業(yè)人員也能參與質(zhì)量討論。這種“所見(jiàn)即所得”的洞察方式，加速了從數(shù)據(jù)到行動(dòng)的轉(zhuǎn)化。上海偉諾信息科技有限公司以可視化為關(guān)鍵設(shè)計(jì)原則，提升YMS的信息傳達(dá)效率與決策支持價(jià)值。Mapping Over Ink處理提升產(chǎn)品市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力，降低客戶投訴率。北京GDBC當(dāng)封測(cè)廠同時(shí)部署...

測(cè)試數(shù)據(jù)長(zhǎng)期累積導(dǎo)致存儲(chǔ)空間迅速膨脹，而大量重復(fù)或無(wú)效記錄加劇資源浪費(fèi)。YMS在數(shù)據(jù)入庫(kù)前自動(dòng)清洗，剔除重復(fù)提交、通信錯(cuò)誤產(chǎn)生的冗余信息，并將stdf、csv、txt等異構(gòu)格式統(tǒng)一壓縮存儲(chǔ)于標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)。集中式管理不僅提升磁盤利用率，還簡(jiǎn)化備份與維護(hù)流程。企業(yè)無(wú)需為無(wú)效數(shù)據(jù)支付額外硬件成本，也降低了IT運(yùn)維復(fù)雜度。這種“精簡(jiǎn)有效”的存儲(chǔ)策略，在保障數(shù)據(jù)完整性的前提下實(shí)現(xiàn)資源優(yōu)化。上海偉諾信息科技有限公司將高效數(shù)據(jù)治理融入YMS設(shè)計(jì)，助力客戶在控制成本的同時(shí)構(gòu)建可持續(xù)的數(shù)據(jù)資產(chǎn)體系。Mapping數(shù)據(jù)經(jīng)解析后與Bin信息精確對(duì)齊，確保測(cè)試結(jié)果可追溯。吉林半導(dǎo)體PAT解決方案芯片制造過(guò)程中，良率波...

晶圓級(jí)良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測(cè)試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動(dòng)對(duì)接ASL1000、TR6850、MS7000、SineTest等設(shè)備，實(shí)時(shí)匯聚原始測(cè)試結(jié)果并完成結(jié)構(gòu)化清洗，消除人工干預(yù)帶來(lái)的延遲與誤差。系統(tǒng)以圖表形式直觀呈現(xiàn)晶圓熱力圖，清晰展示邊緣、中心或象限區(qū)域的良率差異，輔助工程師判斷光刻、刻蝕或沉積環(huán)節(jié)的均勻性問(wèn)題。當(dāng)某批次CP良率異常時(shí)，可聯(lián)動(dòng)WAT參數(shù)變化追溯前道工藝漂移，實(shí)現(xiàn)從前端到后端的全鏈路追溯。多周期報(bào)表自動(dòng)生成并支持多格式導(dǎo)出，滿足從產(chǎn)線到高管的信息消費(fèi)習(xí)慣。這種深度可視化與智能關(guān)聯(lián)分析能力，使良率管理從經(jīng)驗(yàn)驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)向數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)。上海偉諾信息科技有限公司憑借對(duì)半導(dǎo)體制造...

晶圓邊緣區(qū)域良率持續(xù)偏低卻難以定位原因，是工藝工程師常見(jiàn)的痛點(diǎn)。YMS系統(tǒng)在完成stdf、log等原始數(shù)據(jù)清洗后，依據(jù)晶圓空間坐標(biāo)對(duì)缺陷進(jìn)行分類，生成色彩漸變的熱力圖，直觀呈現(xiàn)中心、過(guò)渡區(qū)與邊緣的缺陷密度差異。用戶可對(duì)比不同批次在同一區(qū)域的表現(xiàn)，識(shí)別是否為光刻對(duì)焦偏差或刻蝕均勻性問(wèn)題所致。疊加時(shí)間維度后，還能判斷該現(xiàn)象是偶發(fā)異常還是系統(tǒng)性漂移。這種空間+時(shí)間的雙維分析，使優(yōu)化措施從“整體調(diào)整”轉(zhuǎn)向“精確干預(yù)”，明顯提升工藝調(diào)試效率。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實(shí)際需求，將YMS打造為缺陷定位的可視化利器。Mapping Over Ink處理后的數(shù)據(jù)完整支持回溯為原始Probe格式，...

當(dāng)封測(cè)廠面臨多設(shè)備、多格式測(cè)試數(shù)據(jù)難以統(tǒng)一處理的困境時(shí)，YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)化采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等Tester平臺(tái)輸出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等數(shù)據(jù)，完成重復(fù)性檢測(cè)、缺失值識(shí)別與異常過(guò)濾，明顯降低人工干預(yù)成本。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類，支持從時(shí)間趨勢(shì)到晶圓區(qū)域熱力圖的多維分析，幫助快速定位工藝波動(dòng)點(diǎn)。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算與卡控機(jī)制嵌入關(guān)鍵控制節(jié)點(diǎn)，強(qiáng)化過(guò)程質(zhì)量防線。靈活報(bào)表工具可按模板生成日?qǐng)?bào)、周報(bào)、月報(bào)，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，提升跨部門協(xié)同效率。系統(tǒng)報(bào)價(jià)覆蓋軟件授權(quán)、必要定...

在半導(dǎo)體工廠高頻率、多設(shè)備并行的測(cè)試環(huán)境中，人工處理異構(gòu)數(shù)據(jù)極易延誤問(wèn)題響應(yīng)。YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)化流程，實(shí)時(shí)匯聚來(lái)自STS8200、TR6850、ASL1000、MS7000等設(shè)備的多格式原始數(shù)據(jù)，完成統(tǒng)一解析與清洗，消除因格式差異導(dǎo)致的信息斷層。結(jié)構(gòu)化的數(shù)據(jù)庫(kù)使良率數(shù)據(jù)可追溯、可比對(duì)，支持從批次到晶圓級(jí)別的精細(xì)監(jiān)控。當(dāng)某一批次良率驟降時(shí)，系統(tǒng)可迅速調(diào)取對(duì)應(yīng)區(qū)域的缺陷熱力圖，并關(guān)聯(lián)WAT、CP、FT參數(shù)變化，輔助工程師在數(shù)小時(shí)內(nèi)鎖定根本原因。SYL/SBL卡控功能則在指標(biāo)超限時(shí)自動(dòng)預(yù)警，防止不良品流入下一環(huán)節(jié)。周期性報(bào)表一鍵生成并支持多格式導(dǎo)出，滿足從產(chǎn)線到高管的差異化信息需求。上海偉諾信息科...

當(dāng)多臺(tái)測(cè)試設(shè)備同時(shí)產(chǎn)出異構(gòu)數(shù)據(jù)時(shí)，傳統(tǒng)人工整合方式不僅耗時(shí)，還易引入誤差。YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)化流程，將來(lái)自ETS364、STS8200、TR6850等設(shè)備的spd、jdf、zip等格式數(shù)據(jù)統(tǒng)一解析、清洗并結(jié)構(gòu)化存儲(chǔ)，構(gòu)建一致的數(shù)據(jù)底座。在此基礎(chǔ)上，結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵測(cè)試階段的參數(shù)變化，系統(tǒng)能夠揭示影響良率的深層關(guān)聯(lián)，輔助工程師精確調(diào)整工藝窗口。多維度可視化圖表讓晶圓級(jí)缺陷熱力圖、批次良率走勢(shì)一目了然，明顯縮短問(wèn)題響應(yīng)周期。報(bào)表功能支持按需定制并導(dǎo)出多種辦公格式，提升跨部門協(xié)同效率。SYL/SBL的實(shí)時(shí)卡控能力，則有效預(yù)防批量性質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)。上海偉諾信息科技有限公司秉持“以信為本，以質(zhì)取勝...

在智能制造轉(zhuǎn)型背景下，YMS已不僅是數(shù)據(jù)分析工具，更是連接測(cè)試與工藝優(yōu)化的中樞系統(tǒng)。系統(tǒng)實(shí)時(shí)匯聚來(lái)自ETS364、STS8107、93k等平臺(tái)的測(cè)試結(jié)果，自動(dòng)完成結(jié)構(gòu)化清洗與整合，消除信息孤島。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)支持動(dòng)態(tài)監(jiān)控良率變化，例如識(shí)別某機(jī)臺(tái)連續(xù)三批邊緣區(qū)域良率偏低，觸發(fā)設(shè)備校準(zhǔn)預(yù)警。SYL/SBL卡控功能則在指標(biāo)超限時(shí)自動(dòng)攔截異常批次，防止不良品流入下一環(huán)節(jié)。報(bào)表引擎支持按產(chǎn)品線、客戶或班次生成定制化報(bào)告，適配不同管理層的信息需求。這種“采集—分析—干預(yù)—反饋”的閉環(huán)機(jī)制，明顯提升了生產(chǎn)過(guò)程的可控性與響應(yīng)速度。上海偉諾信息科技有限公司以打造中國(guó)半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命，持續(xù)完善YMS的集成能力。...

當(dāng)封測(cè)廠每日面對(duì)來(lái)自數(shù)十臺(tái)測(cè)試機(jī)臺(tái)的海量異構(gòu)數(shù)據(jù)時(shí)，傳統(tǒng)手工匯總方式已難以滿足實(shí)時(shí)質(zhì)量管控需求。YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)化流程，即時(shí)采集并清洗ETS364、TR6850、ASL1000、MS7000等設(shè)備輸出的原始測(cè)試數(shù)據(jù)，剔除重復(fù)、缺失與異常記錄，構(gòu)建高可信度的數(shù)據(jù)底座。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)支持從時(shí)間軸追蹤良率波動(dòng)，或聚焦晶圓特定區(qū)域識(shí)別系統(tǒng)性缺陷，結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)變化，快速定位工藝偏差根源。例如，當(dāng)某批次FT良率驟降時(shí)，系統(tǒng)可聯(lián)動(dòng)CP數(shù)據(jù)判斷是否為封裝環(huán)節(jié)引入問(wèn)題，縮短排查周期達(dá)數(shù)小時(shí)。圖表化界面與日?qǐng)?bào)、周報(bào)、月報(bào)自動(dòng)生成機(jī)制，使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源高效決策。上海偉諾信息科技有限公司憑借對(duì)半...

為滿足日益嚴(yán)苛的車規(guī)與工規(guī)質(zhì)量要求，在晶圓測(cè)試階段引入三溫乃至多溫測(cè)試，已成為篩選高可靠性芯片的標(biāo)準(zhǔn)流程。這一測(cè)試旨在模擬芯片在極端環(huán)境下的工作狀態(tài)，通過(guò)高溫、常溫、低溫下的全面性能評(píng)估，有效剔除對(duì)環(huán)境敏感、性能不穩(wěn)定的潛在缺陷品，從而大幅提升產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。因此，如何在海量的多溫測(cè)試數(shù)據(jù)中識(shí)別并剔除這些因溫度敏感性過(guò)高而存在潛在風(fēng)險(xiǎn)的芯片，已成為業(yè)內(nèi)高度關(guān)注并致力解決的關(guān)鍵課題。 為應(yīng)對(duì)車規(guī)、工規(guī)產(chǎn)品在多溫測(cè)試中面臨的參數(shù)漂移挑戰(zhàn)，上海偉諾信息科技有限公司憑借其深厚的技術(shù)積累，開(kāi)發(fā)了一套專門用于多溫Drift分析的智能化處理方案。該方案的關(guān)鍵在于，超越傳統(tǒng)的、在各個(gè)溫度點(diǎn)進(jìn)行孤...

在評(píng)估良率管理系統(tǒng)投入時(shí)，企業(yè)關(guān)注的不僅是初始采購(gòu)成本，更是長(zhǎng)期使用中的效率回報(bào)與服務(wù)保障。YMS系統(tǒng)提供模塊化配置方案，涵蓋軟件授權(quán)、必要定制、技術(shù)培訓(xùn)及持續(xù)運(yùn)維支持，確保部署后穩(wěn)定運(yùn)行與功能演進(jìn)。系統(tǒng)自動(dòng)對(duì)接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等主流Tester設(shè)備，處理stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式數(shù)據(jù)，大幅減少人工清洗與整合工作量，降低隱性人力成本。透明的報(bào)價(jià)結(jié)構(gòu)避免隱性收費(fèi)，使預(yù)算規(guī)劃更可控。同時(shí)，系統(tǒng)內(nèi)置的SYL/SBL自動(dòng)計(jì)算與卡控、多維度良率分析及靈活報(bào)表導(dǎo)出功能，直接支撐質(zhì)量決策效率提升。這種“一次投入、持續(xù)賦...

晶圓級(jí)良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測(cè)試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動(dòng)對(duì)接ASL1000、TR6850、MS7000、SineTest等設(shè)備，實(shí)時(shí)匯聚原始測(cè)試結(jié)果并完成結(jié)構(gòu)化清洗，消除人工干預(yù)帶來(lái)的延遲與誤差。系統(tǒng)以圖表形式直觀呈現(xiàn)晶圓熱力圖，清晰展示邊緣、中心或象限區(qū)域的良率差異，輔助工程師判斷光刻、刻蝕或沉積環(huán)節(jié)的均勻性問(wèn)題。當(dāng)某批次CP良率異常時(shí)，可聯(lián)動(dòng)WAT參數(shù)變化追溯前道工藝漂移，實(shí)現(xiàn)從前端到后端的全鏈路追溯。多周期報(bào)表自動(dòng)生成并支持多格式導(dǎo)出，滿足從產(chǎn)線到高管的信息消費(fèi)習(xí)慣。這種深度可視化與智能關(guān)聯(lián)分析能力，使良率管理從經(jīng)驗(yàn)驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)向數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)。上海偉諾信息科技有限公司憑借對(duì)半導(dǎo)體制造...

面對(duì)stdf、log、jdf等格式混雜的測(cè)試數(shù)據(jù)流，傳統(tǒng)手工轉(zhuǎn)換不僅耗時(shí)，還易引入人為錯(cuò)誤。YMS系統(tǒng)采用智能解析與清洗技術(shù)，自動(dòng)校驗(yàn)字段一致性，對(duì)缺失或錯(cuò)位字段進(jìn)行邏輯補(bǔ)全或標(biāo)記，確保每條記錄結(jié)構(gòu)完整。系統(tǒng)支持批量歷史數(shù)據(jù)導(dǎo)入與實(shí)時(shí)測(cè)試流同步處理，無(wú)論數(shù)據(jù)來(lái)自ASL1000還是TR6850，均能統(tǒng)一轉(zhuǎn)化為可用于分析的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)集。在此基礎(chǔ)上，異常值被自動(dòng)過(guò)濾，重復(fù)記錄被精確剔除，明顯提升數(shù)據(jù)可信度。這種端到端的自動(dòng)化處理機(jī)制，使工程師無(wú)需再耗費(fèi)數(shù)小時(shí)整理原始文件，而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實(shí)際數(shù)據(jù)特征，構(gòu)建了這一高效可靠的數(shù)據(jù)預(yù)處理體系。Mapping O...

面對(duì)海量測(cè)試數(shù)據(jù)，表格形式難以快速捕捉異常模式。YMS系統(tǒng)將良率與缺陷信息轉(zhuǎn)化為熱力圖、趨勢(shì)曲線、散點(diǎn)圖等多種可視化圖表：晶圓熱力圖一眼識(shí)別高缺陷區(qū)域，時(shí)間序列圖揭示良率波動(dòng)周期，參數(shù)散點(diǎn)圖暴露非線性關(guān)聯(lián)關(guān)系。例如，通過(guò)CP漏電與FT功能失效的散點(diǎn)分布，可判斷是否存在特定電壓下的共性失效機(jī)制。圖形化表達(dá)降低數(shù)據(jù)分析門檻，使非數(shù)據(jù)專業(yè)人員也能參與質(zhì)量討論。這種“所見(jiàn)即所得”的洞察方式，加速了從數(shù)據(jù)到行動(dòng)的轉(zhuǎn)化。上海偉諾信息科技有限公司以可視化為關(guān)鍵設(shè)計(jì)原則，提升YMS的信息傳達(dá)效率與決策支持價(jià)值。Mapping Over Ink處理明顯降低早期失效率，減少封裝環(huán)節(jié)的潛在失效風(fēng)險(xiǎn)。貴州可視化GDB...

因測(cè)試數(shù)據(jù)錯(cuò)誤導(dǎo)致誤判良率，可能引發(fā)不必要的重測(cè)或錯(cuò)誤工藝調(diào)整，造成材料與時(shí)間雙重浪費(fèi)。YMS在數(shù)據(jù)入庫(kù)前執(zhí)行多層校驗(yàn)，自動(dòng)剔除異常記錄，確保進(jìn)入分析環(huán)節(jié)的數(shù)據(jù)真實(shí)反映產(chǎn)品狀態(tài)。例如，當(dāng)某晶圓因通信中斷產(chǎn)生部分缺失數(shù)據(jù)時(shí)，系統(tǒng)會(huì)標(biāo)記該記錄而非直接納入統(tǒng)計(jì)，避免拉低整體良率。結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)的交叉驗(yàn)證，進(jìn)一步排除孤立異常點(diǎn)。高質(zhì)量數(shù)據(jù)輸入使質(zhì)量決策建立在可靠基礎(chǔ)上，明顯降低返工率和報(bào)廢風(fēng)險(xiǎn)。這種前置質(zhì)量控制機(jī)制，將成本節(jié)約從“事后補(bǔ)救”轉(zhuǎn)向“事前預(yù)防”。上海偉諾信息科技有限公司通過(guò)嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臄?shù)據(jù)治理邏輯，保障YMS輸出結(jié)果的科學(xué)性與可執(zhí)行性。Mapping Over Ink處理因數(shù)據(jù)分析自...

面對(duì)半導(dǎo)體生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)，車間良率管理系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了對(duì)制造過(guò)程的實(shí)時(shí)洞察與動(dòng)態(tài)調(diào)控。系統(tǒng)自動(dòng)匯聚來(lái)自各類測(cè)試設(shè)備的原始數(shù)據(jù)，經(jīng)智能解析后形成結(jié)構(gòu)化數(shù)據(jù)庫(kù)，支撐對(duì)各工序、各時(shí)段良率表現(xiàn)的即時(shí)追蹤。管理者可通過(guò)可視化圖表快速識(shí)別產(chǎn)線瓶頸、異常波動(dòng)或區(qū)域性缺陷，及時(shí)干預(yù)以減少損失。系統(tǒng)不僅支持按需生成標(biāo)準(zhǔn)化報(bào)告，還可導(dǎo)出多種格式，適配車間操作與高層管理的不同使用場(chǎng)景。這種數(shù)據(jù)透明化機(jī)制，明顯提升了生產(chǎn)過(guò)程的可控性與響應(yīng)速度。上海偉諾信息科技有限公司憑借對(duì)半導(dǎo)體制造流程的深刻理解，將YMS打造為連接設(shè)備數(shù)據(jù)與管理決策的高效橋梁。PAT模塊與GDBC算法協(xié)同區(qū)分隨機(jī)噪聲與系統(tǒng)性缺陷，提升篩選精確度。中國(guó)香港自動(dòng)化...

測(cè)試數(shù)據(jù)長(zhǎng)期累積導(dǎo)致存儲(chǔ)空間迅速膨脹，而大量重復(fù)或無(wú)效記錄加劇資源浪費(fèi)。YMS在數(shù)據(jù)入庫(kù)前自動(dòng)清洗，剔除重復(fù)提交、通信錯(cuò)誤產(chǎn)生的冗余信息，并將stdf、csv、txt等異構(gòu)格式統(tǒng)一壓縮存儲(chǔ)于標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)。集中式管理不僅提升磁盤利用率，還簡(jiǎn)化備份與維護(hù)流程。企業(yè)無(wú)需為無(wú)效數(shù)據(jù)支付額外硬件成本，也降低了IT運(yùn)維復(fù)雜度。這種“精簡(jiǎn)有效”的存儲(chǔ)策略，在保障數(shù)據(jù)完整性的前提下實(shí)現(xiàn)資源優(yōu)化。上海偉諾信息科技有限公司將高效數(shù)據(jù)治理融入YMS設(shè)計(jì)，助力客戶在控制成本的同時(shí)構(gòu)建可持續(xù)的數(shù)據(jù)資產(chǎn)體系。PAT模塊通過(guò)統(tǒng)計(jì)方法識(shí)別電性參數(shù)異常但功能Pass的單元，剔除隱性風(fēng)險(xiǎn)芯片。內(nèi)蒙古MappingOverInk處...

面對(duì)市場(chǎng)上良率管理系統(tǒng)供應(yīng)商良莠不齊的局面，技術(shù)自主性與行業(yè)適配能力成為選型主要標(biāo)準(zhǔn)。真正有效的系統(tǒng)需同時(shí)支持多品牌Tester設(shè)備、處理異構(gòu)數(shù)據(jù)格式，并具備深度分析與可視化能力。YMS系統(tǒng)已集成ETS364、SineTest、ASL1000、MS7000、Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設(shè)備的數(shù)據(jù)接口，覆蓋stdf、csv、log等十余種格式，實(shí)現(xiàn)一次接入、全域兼容。其分析引擎不僅支持時(shí)間趨勢(shì)與晶圓區(qū)域?qū)Ρ?，還能關(guān)聯(lián)WAT、CP、FT參數(shù)變化，精確定位根因。更重要的是，系統(tǒng)背后有完整的實(shí)施與服務(wù)體系支撐，確保從部署到優(yōu)化的每個(gè)環(huán)節(jié)穩(wěn)定可控。這種軟硬協(xié)同的能力，使YMS在國(guó)產(chǎn)替...

當(dāng)企業(yè)評(píng)估良率管理系統(tǒng)的投入產(chǎn)出比時(shí)，功能覆蓋度與服務(wù)適配性成為關(guān)鍵考量。YMS系統(tǒng)提供從基礎(chǔ)數(shù)據(jù)采集到深度分析的多級(jí)配置選項(xiàng)，可根據(jù)企業(yè)規(guī)模與業(yè)務(wù)復(fù)雜度靈活調(diào)整?；A(chǔ)模塊滿足自動(dòng)化數(shù)據(jù)接入與清洗需求，高級(jí)功能則涵蓋多維度良率監(jiān)控、異常自動(dòng)過(guò)濾及定制化報(bào)表生成。所有版本均支持主流測(cè)試平臺(tái)與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)格式，確保系統(tǒng)即插即用。價(jià)格策略注重透明與合理性，在控制初期投入的同時(shí)保障長(zhǎng)期使用價(jià)值。配合完善的售前咨詢、售中方案優(yōu)化與售后標(biāo)準(zhǔn)化服務(wù)，系統(tǒng)全生命周期成本明顯降低。這種高性價(jià)比的部署模式，使企業(yè)在有限預(yù)算下仍能實(shí)現(xiàn)良率數(shù)據(jù)的閉環(huán)管理。上海偉諾信息科技有限公司憑借對(duì)半導(dǎo)體行業(yè)的深刻理解，為客戶提供兼具...

當(dāng)CP良率驟降而FT失敗模式復(fù)雜時(shí)，只靠單一測(cè)試階段數(shù)據(jù)難以歸因。YMS系統(tǒng)將WAT、CP與FT參數(shù)統(tǒng)一納入分析框架，建立跨階段關(guān)聯(lián)模型。例如，若某批次WAT中柵氧擊穿電壓偏移，同時(shí)CP漏電流異常升高，YMS可自動(dòng)關(guān)聯(lián)兩者趨勢(shì)，提示前道氧化工藝可能存在波動(dòng)。圖形化界面支持并排查看參數(shù)曲線與良率變化，快速鎖定關(guān)鍵影響因子，避免在封裝或測(cè)試環(huán)節(jié)盲目排查。這種端到端的根因分析能力，將問(wèn)題診斷周期從數(shù)天縮短至數(shù)小時(shí)，減少試產(chǎn)浪費(fèi)。上海偉諾信息科技有限公司通過(guò)深度整合多源測(cè)試數(shù)據(jù)，使YMS成為良率攻關(guān)的關(guān)鍵工具。工藝工程師基于GDBC聚類結(jié)果優(yōu)化制程參數(shù)，提升制造良率水平。中國(guó)臺(tái)灣自動(dòng)化GDBC服務(wù)在半...

作為國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)的重要建設(shè)者，YMS系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)始終圍繞真實(shí)生產(chǎn)痛點(diǎn)展開(kāi)。系統(tǒng)兼容主流Tester平臺(tái)，自動(dòng)處理stdf、csv、log等十余種數(shù)據(jù)格式，完成從采集、清洗到整合的全流程自動(dòng)化，消除信息孤島。其分析引擎支持多維度交叉比對(duì)，例如將晶圓邊緣良率偏低現(xiàn)象與刻蝕設(shè)備參數(shù)日志關(guān)聯(lián)，輔助工程師精確歸因。SYL/SBL卡控機(jī)制嵌入關(guān)鍵控制點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)過(guò)程質(zhì)量前置管理。配套的報(bào)表工具可按模板一鍵生成周期報(bào)告，大幅提升跨部門協(xié)同效率。更重要的是，系統(tǒng)背后有完整的售前咨詢、售中方案優(yōu)化與售后標(biāo)準(zhǔn)化服務(wù)體系支撐，確保價(jià)值落地。上海偉諾信息科技有限公司依托多年行業(yè)積累，使YMS成為兼具技術(shù)深度與實(shí)施可靠...

在半導(dǎo)體制造中，由于Fab制程的物理與化學(xué)特性，晶圓邊緣的芯片（Edge Die）其失效率明顯高于中心區(qū)域。這一現(xiàn)象主要源于幾個(gè)關(guān)鍵因素：首先，在光刻、刻蝕、薄膜沉積等工藝中，晶圓邊緣的反應(yīng)氣體流場(chǎng)、溫度場(chǎng)及壓力場(chǎng)分布不均，導(dǎo)致工藝一致性變差；其次，邊緣區(qū)域更容易出現(xiàn)厚度不均、殘留應(yīng)力集中等問(wèn)題；此外，光刻膠在邊緣的涂覆均勻性也通常較差。這些因素共同導(dǎo)致邊緣芯片的電氣參數(shù)漂移、性能不穩(wěn)定乃至早期失效風(fēng)險(xiǎn)急劇升高。因此，在晶圓測(cè)試（CP）的制造流程中，對(duì)電性測(cè)試圖譜（Wafer Mapping）執(zhí)行“去邊”操作，便成為一項(xiàng)提升產(chǎn)品整體良率與可靠性的關(guān)鍵步驟。 上海偉諾信息科技有限公司Mappin...

每周一上午趕制良率周報(bào)曾是質(zhì)量團(tuán)隊(duì)的固定負(fù)擔(dān)：手動(dòng)匯總Excel、調(diào)整圖表、統(tǒng)一格式，耗時(shí)且易出錯(cuò)。YMS內(nèi)置報(bào)表模板可按日、周、月自動(dòng)生成結(jié)構(gòu)化報(bào)告，內(nèi)容涵蓋SYL/SBL卡控狀態(tài)、區(qū)域缺陷對(duì)比、時(shí)間趨勢(shì)等關(guān)鍵指標(biāo)，并支持一鍵導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF。管理層用PPT版直接用于經(jīng)營(yíng)會(huì)議，客戶審計(jì)接收標(biāo)準(zhǔn)化PDF文檔，工程師則調(diào)取Excel原始數(shù)據(jù)深入挖掘。自動(dòng)化流程確保全公司使用同一數(shù)據(jù)口徑，避免信息互相影響。報(bào)表制作時(shí)間從數(shù)小時(shí)降至幾分鐘，釋放人力資源投入更高價(jià)值工作。上海偉諾信息科技有限公司通過(guò)靈活報(bào)表功能，推動(dòng)企業(yè)決策從“經(jīng)驗(yàn)驅(qū)動(dòng)”向“數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)”轉(zhuǎn)型。Mapping Over I...