晶圓制造環(huán)節(jié)的良率波動直接影響整體產(chǎn)出效率，YMS系統(tǒng)通過全流程數(shù)據(jù)治理提供有力支撐。系統(tǒng)自動采集并解析來自主流測試設(shè)備的多源異構(gòu)數(shù)據(jù)，建立標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，實(shí)現(xiàn)對晶圓批次、區(qū)域乃至單點(diǎn)良率的精細(xì)化監(jiān)控。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵測試數(shù)據(jù)的變化趨勢，系統(tǒng)可快速鎖定影響良率的關(guān)鍵因素，指導(dǎo)工藝參數(shù)調(diào)優(yōu)。圖表化界面直觀展示良率熱力圖、趨勢曲線等關(guān)鍵指標(biāo)，輔助工程師高效決策。同時，系統(tǒng)支持按模板生成周期性報(bào)告，并導(dǎo)出為常用辦公格式，滿足生產(chǎn)與管理雙重需求。上海偉諾信息科技有限公司以打造國產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命，其YMS產(chǎn)品正持續(xù)助力制造企業(yè)邁向高質(zhì)量、高效率的發(fā)展新階段。GDBC算法識別的聚類區(qū)域常指...

傳統(tǒng)良率卡控依賴人工設(shè)定固定閾值，難以適應(yīng)產(chǎn)品迭代或工藝波動。YMS系統(tǒng)基于歷史測試數(shù)據(jù)自動計(jì)算SYL（良率下限）與SBL（良率控制線），并根據(jù)統(tǒng)計(jì)規(guī)律動態(tài)調(diào)整控制邊界。當(dāng)某批次實(shí)際良率跌破SBL時，系統(tǒng)立即觸發(fā)告警，通知質(zhì)量人員介入；若連續(xù)多批接近SYL，則提示需啟動工藝評審。該機(jī)制將質(zhì)量防線前置，防止低良率晶圓流入昂貴的封裝環(huán)節(jié)，有效控制報(bào)廢成本。自動計(jì)算替代經(jīng)驗(yàn)估算，確?？貥?biāo)準(zhǔn)客觀、一致且可追溯。上海偉諾信息科技有限公司將SYL、SBL自動卡控作為YMS的關(guān)鍵功能，支撐客戶實(shí)現(xiàn)過程質(zhì)量的主動管理。Mapping Over Ink處理推動封測環(huán)節(jié)向預(yù)測性質(zhì)量演進(jìn)，實(shí)現(xiàn)主動風(fēng)險管理。廣西可...

芯片制造對良率控制的顆粒度要求極高，任何微小偏差都可能造成重大損失。YMS系統(tǒng)通過自動接入各類Tester平臺產(chǎn)生的多格式測試數(shù)據(jù)，完成高精度的數(shù)據(jù)解析與整合，確保從晶圓到單顆芯片的良率信息真實(shí)可靠。系統(tǒng)依托標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，支持按時間、區(qū)域、批次等多維度進(jìn)行缺陷聚類與根因追溯，幫助研發(fā)與制造團(tuán)隊(duì)快速響應(yīng)異常。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)數(shù)據(jù)的變化，可深入剖析工藝穩(wěn)定性或設(shè)計(jì)兼容性問題。SYL與SBL參數(shù)的自動計(jì)算與卡控，為芯片級質(zhì)量提供雙重保障。報(bào)表工具支持按模板生成周期報(bào)告，并導(dǎo)出為常用辦公格式，提升信息流轉(zhuǎn)效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，專注于半導(dǎo)體系統(tǒng)軟件研發(fā)，其Y...

良率管理服務(wù)的價值體現(xiàn)在全生命周期的技術(shù)陪伴與問題解決能力。YMS系統(tǒng)不僅提供數(shù)據(jù)采集、清洗、分析與可視化的一體化平臺，更通過售前技術(shù)咨詢、售中合理化方案定制與售后標(biāo)準(zhǔn)化服務(wù)，確保系統(tǒng)與客戶實(shí)際流程深度契合。當(dāng)客戶接入ETS88、STS8107、Chroma等設(shè)備后，系統(tǒng)自動處理其輸出的stdf、xls、spd、jdf等格式數(shù)據(jù)，完成異常檢測與結(jié)構(gòu)化存儲。管理者可通過圖表直觀掌握良率趨勢、區(qū)域缺陷分布及WAT/CP/FT參數(shù)關(guān)聯(lián)性，快速制定改進(jìn)措施。SYL與SBL的自動計(jì)算與閾值監(jiān)控，進(jìn)一步提升過程穩(wěn)定性。靈活的報(bào)表工具支持多格式導(dǎo)出，打通從車間到?jīng)Q策層的信息通道。上海偉諾信息科技有限公司以完...

ZPAT 是一種基于統(tǒng)計(jì)學(xué)的芯片篩選技術(shù)，通過在晶圓測試階段識別并剔除具有潛在缺陷的芯片，從而提升產(chǎn)品的可靠性。在實(shí)際的應(yīng)用過程中需要通過疊加多片Wafer找出在同一坐標(biāo)下失效的Die的比例，通過特定的算法從而評估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質(zhì)量零缺陷的一種手段。 為助力客戶應(yīng)對日益嚴(yán)苛的“零缺陷”質(zhì)量挑戰(zhàn)，上海偉諾信息科技有限公司將其先進(jìn)的ZPAT技術(shù)深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創(chuàng)新集成賦予用戶高度的靈活性與強(qiáng)大的分析能力，使其能夠通過一套高度可配置的流程，精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數(shù)超出統(tǒng)計(jì)控制界限的異常芯片，從而構(gòu)筑...

面對工廠級良率管理的復(fù)雜性，單一數(shù)據(jù)源或手工報(bào)表已難以支撐全局質(zhì)量洞察。YMS系統(tǒng)整合來自Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設(shè)備的stdf、xls、log等測試數(shù)據(jù)，通過自動化清洗與異常過濾，構(gòu)建全廠統(tǒng)一的良率數(shù)據(jù)視圖。管理者可基于該視圖，從時間維度追蹤長期趨勢，或從空間維度比對不同機(jī)臺、批次間的性能差異，精確識別瓶頸環(huán)節(jié)。系統(tǒng)對WAT、CP、FT參數(shù)的聯(lián)動分析，進(jìn)一步打通從前道到后道的質(zhì)量鏈路。SYL與SBL的自動卡控機(jī)制，確保關(guān)鍵指標(biāo)始終處于受控狀態(tài)。靈活的報(bào)表導(dǎo)出功能，則滿足從車間班組長到高管的多層次信息需求。上海偉諾信息科技有限公司立足本土半導(dǎo)體發(fā)展需求，持續(xù)完善YMS系...

當(dāng)企業(yè)評估良率管理系統(tǒng)的投入產(chǎn)出比時，功能覆蓋度與服務(wù)適配性成為關(guān)鍵考量。YMS系統(tǒng)提供從基礎(chǔ)數(shù)據(jù)采集到深度分析的多級配置選項(xiàng)，可根據(jù)企業(yè)規(guī)模與業(yè)務(wù)復(fù)雜度靈活調(diào)整?；A(chǔ)模塊滿足自動化數(shù)據(jù)接入與清洗需求，高級功能則涵蓋多維度良率監(jiān)控、異常自動過濾及定制化報(bào)表生成。所有版本均支持主流測試平臺與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)格式，確保系統(tǒng)即插即用。價格策略注重透明與合理性，在控制初期投入的同時保障長期使用價值。配合完善的售前咨詢、售中方案優(yōu)化與售后標(biāo)準(zhǔn)化服務(wù)，系統(tǒng)全生命周期成本明顯降低。這種高性價比的部署模式，使企業(yè)在有限預(yù)算下仍能實(shí)現(xiàn)良率數(shù)據(jù)的閉環(huán)管理。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導(dǎo)體行業(yè)的深刻理解，為客戶提供兼具...

分散在不同Excel表格或本地?cái)?shù)據(jù)庫中的測試數(shù)據(jù)，往往難以跨項(xiàng)目調(diào)用和對比。YMS通過構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，將來自ETS364、SineTest、MS7000、CTA8280等設(shè)備的異構(gòu)數(shù)據(jù)，按產(chǎn)品型號、測試階段、時間、區(qū)域等維度統(tǒng)一歸檔，形成結(jié)構(gòu)清晰、索引完備的數(shù)據(jù)資產(chǎn)池。用戶可通過多條件組合快速檢索特定批次的歷史良率記錄，或橫向比較不同封裝線的表現(xiàn)。標(biāo)準(zhǔn)化存儲不僅提升查詢效率，更為WAT/CP/FT參數(shù)聯(lián)動分析、SYL/SBL卡控等高級功能提供一致數(shù)據(jù)源?？绮块T協(xié)作時，設(shè)計(jì)、工藝與質(zhì)量團(tuán)隊(duì)可基于同一套數(shù)據(jù)開展討論，減少信息偏差。上海偉諾信息科技有限公司依托行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，使YMS成為企業(yè)構(gòu)建數(shù)據(jù)驅(qū)動...

在半導(dǎo)體工廠高頻率、多設(shè)備并行的測試環(huán)境中，人工處理異構(gòu)數(shù)據(jù)極易延誤問題響應(yīng)。YMS系統(tǒng)通過自動化流程，實(shí)時匯聚來自STS8200、TR6850、ASL1000、MS7000等設(shè)備的多格式原始數(shù)據(jù)，完成統(tǒng)一解析與清洗，消除因格式差異導(dǎo)致的信息斷層。結(jié)構(gòu)化的數(shù)據(jù)庫使良率數(shù)據(jù)可追溯、可比對，支持從批次到晶圓級別的精細(xì)監(jiān)控。當(dāng)某一批次良率驟降時，系統(tǒng)可迅速調(diào)取對應(yīng)區(qū)域的缺陷熱力圖，并關(guān)聯(lián)WAT、CP、FT參數(shù)變化，輔助工程師在數(shù)小時內(nèi)鎖定根本原因。SYL/SBL卡控功能則在指標(biāo)超限時自動預(yù)警，防止不良品流入下一環(huán)節(jié)。周期性報(bào)表一鍵生成并支持多格式導(dǎo)出，滿足從產(chǎn)線到高管的差異化信息需求。上海偉諾信息科...

當(dāng)測試工程師面對來自ETS88、J750、93k等多臺設(shè)備輸出的stdf、log、jdf等格式混雜的原始數(shù)據(jù)時，傳統(tǒng)人工清洗往往需耗費(fèi)數(shù)小時核對字段、剔除重復(fù)記錄。YMS系統(tǒng)通過自動解析引擎識別各類數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，檢測重復(fù)性與缺失性，并過濾異常值，將清洗過程壓縮至分鐘級。清洗后的數(shù)據(jù)統(tǒng)一歸入標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，確保后續(xù)分析基于一致、干凈的數(shù)據(jù)源。工程師不再陷于繁瑣整理，而是聚焦于缺陷模式識別與工藝優(yōu)化建議。這種自動化處理不僅提升效率，更消除人為疏漏帶來的分析偏差。上海偉諾信息科技有限公司將數(shù)據(jù)清洗作為YMS的基礎(chǔ)能力，支撐客戶實(shí)現(xiàn)高效、可靠的良率管理。SPAT模塊用于靜態(tài)參數(shù)偏離的篩查，固定測試限保障CP...

晶圓制造環(huán)節(jié)的良率波動直接影響整體產(chǎn)出效率，YMS系統(tǒng)通過全流程數(shù)據(jù)治理提供有力支撐。系統(tǒng)自動采集并解析來自主流測試設(shè)備的多源異構(gòu)數(shù)據(jù)，建立標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，實(shí)現(xiàn)對晶圓批次、區(qū)域乃至單點(diǎn)良率的精細(xì)化監(jiān)控。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵測試數(shù)據(jù)的變化趨勢，系統(tǒng)可快速鎖定影響良率的關(guān)鍵因素，指導(dǎo)工藝參數(shù)調(diào)優(yōu)。圖表化界面直觀展示良率熱力圖、趨勢曲線等關(guān)鍵指標(biāo)，輔助工程師高效決策。同時，系統(tǒng)支持按模板生成周期性報(bào)告，并導(dǎo)出為常用辦公格式，滿足生產(chǎn)與管理雙重需求。上海偉諾信息科技有限公司以打造國產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命，其YMS產(chǎn)品正持續(xù)助力制造企業(yè)邁向高質(zhì)量、高效率的發(fā)展新階段。Mapping Over In...

芯片制造過程中，良率波動若不能及時識別，可能導(dǎo)致整批產(chǎn)品報(bào)廢。YMS系統(tǒng)通過自動采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多格式測試數(shù)據(jù)，完成重復(fù)性檢測、缺失值識別與異常過濾，確保分析基礎(chǔ)可靠。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫支持從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植?，快速定位工藝異常點(diǎn)。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動分析，可區(qū)分是設(shè)計(jì)問題還是制程偏差，大幅縮短根因排查周期。SYL與SBL的自動計(jì)算與卡控機(jī)制嵌入關(guān)鍵控制節(jié)點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)預(yù)防性質(zhì)量干預(yù)。靈活報(bào)表工具按模板生成日報(bào)、周報(bào)、月報(bào)，并...

Mapping Over Ink是一套在晶圓測試（CP）后，對電性測試圖譜進(jìn)行智能分析、處理，并直接驅(qū)動探針臺對特定芯片進(jìn)行噴墨打點(diǎn)的自動化系統(tǒng)。它將各種分析算法（如ZPAT, GDBN）得出的“失效判定”轉(zhuǎn)化為物理世界中的行動——將不良品標(biāo)記出來，使其在后續(xù)封裝中被剔除。其重點(diǎn)是預(yù)見性地剔除所有潛在缺陷芯片，而不僅是那些已經(jīng)明確失效的。也是提升芯片零缺陷的一種重要方式。 上海偉諾信息科技有限公司作為半導(dǎo)體測試領(lǐng)域的解決方案供應(yīng)商，致力于為國內(nèi)外半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司與晶圓測試廠提供一站式的 Mapping Over Ink 整體解決方案。我們的平臺集成了業(yè)界前沿、專業(yè)的數(shù)據(jù)分析與處理模塊，...

為滿足日益嚴(yán)苛的車規(guī)與工規(guī)質(zhì)量要求，在晶圓測試階段引入三溫乃至多溫測試，已成為篩選高可靠性芯片的標(biāo)準(zhǔn)流程。這一測試旨在模擬芯片在極端環(huán)境下的工作狀態(tài)，通過高溫、常溫、低溫下的全面性能評估，有效剔除對環(huán)境敏感、性能不穩(wěn)定的潛在缺陷品，從而大幅提升產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。因此，如何在海量的多溫測試數(shù)據(jù)中識別并剔除這些因溫度敏感性過高而存在潛在風(fēng)險的芯片，已成為業(yè)內(nèi)高度關(guān)注并致力解決的關(guān)鍵課題。 為應(yīng)對車規(guī)、工規(guī)產(chǎn)品在多溫測試中面臨的參數(shù)漂移挑戰(zhàn)，上海偉諾信息科技有限公司憑借其深厚的技術(shù)積累，開發(fā)了一套專門用于多溫Drift分析的智能化處理方案。該方案的關(guān)鍵在于，超越傳統(tǒng)的、在各個溫度點(diǎn)進(jìn)行孤...

良率管理的目標(biāo)是將海量測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為可執(zhí)行的工藝洞察。YMS系統(tǒng)通過自動化采集來自各類Tester平臺的多格式數(shù)據(jù)，完成端到端的數(shù)據(jù)清洗與整合，消除人工干預(yù)帶來的誤差與延遲。在此基礎(chǔ)上，系統(tǒng)構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，支持從批次級到晶圓級的多維度缺陷分析，例如識別某一時段內(nèi)邊緣區(qū)域良率驟降是否與刻蝕參數(shù)漂移相關(guān)。結(jié)合WAT、CP、FT數(shù)據(jù)的交叉驗(yàn)證，可區(qū)分設(shè)計(jì)缺陷與制造偏差，縮短問題排查周期。SYL與SBL的自動計(jì)算與實(shí)時卡控，為關(guān)鍵指標(biāo)設(shè)置動態(tài)防線。周期性報(bào)告一鍵生成并支持PPT、Excel、PDF導(dǎo)出，使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源快速決策。這種從數(shù)據(jù)到行動的閉環(huán)機(jī)制，明顯提升了生產(chǎn)過程的可控性與響應(yīng)速度...

標(biāo)準(zhǔn)化良率管理系統(tǒng)難以覆蓋不同企業(yè)的工藝路徑與管理重點(diǎn)，定制化成為提升系統(tǒng)價值的關(guān)鍵路徑。YMS支持根據(jù)客戶實(shí)際使用的測試平臺組合、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)及分析維度進(jìn)行功能適配，例如針對特定封裝流程優(yōu)化缺陷分類邏輯，或?yàn)楦哳l監(jiān)控場景開發(fā)專屬看板。系統(tǒng)底層架構(gòu)保持統(tǒng)一，上層應(yīng)用則靈活可調(diào)，既保障數(shù)據(jù)治理規(guī)范性，又滿足業(yè)務(wù)個性化需求。定制內(nèi)容包括但不限于報(bào)表模板、卡控閾值、導(dǎo)出格式及用戶權(quán)限體系，確保系統(tǒng)與現(xiàn)有工作流無縫融合。通過前期深度調(diào)研與迭代式交付，定制方案能精確匹配客戶在良率提升、異常預(yù)警或合規(guī)追溯等方面的目標(biāo)。上海偉諾信息科技有限公司將定制服務(wù)視為價值共創(chuàng)過程，以技術(shù)靈活性支撐客戶業(yè)務(wù)獨(dú)特性。Mapp...

分散在不同Excel表格或本地?cái)?shù)據(jù)庫中的測試數(shù)據(jù)，往往難以跨項(xiàng)目調(diào)用和對比。YMS通過構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，將來自ETS364、SineTest、MS7000、CTA8280等設(shè)備的異構(gòu)數(shù)據(jù)，按產(chǎn)品型號、測試階段、時間、區(qū)域等維度統(tǒng)一歸檔，形成結(jié)構(gòu)清晰、索引完備的數(shù)據(jù)資產(chǎn)池。用戶可通過多條件組合快速檢索特定批次的歷史良率記錄，或橫向比較不同封裝線的表現(xiàn)。標(biāo)準(zhǔn)化存儲不僅提升查詢效率，更為WAT/CP/FT參數(shù)聯(lián)動分析、SYL/SBL卡控等高級功能提供一致數(shù)據(jù)源?？绮块T協(xié)作時，設(shè)計(jì)、工藝與質(zhì)量團(tuán)隊(duì)可基于同一套數(shù)據(jù)開展討論，減少信息偏差。上海偉諾信息科技有限公司依托行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，使YMS成為企業(yè)構(gòu)建數(shù)據(jù)驅(qū)動...

當(dāng)封測廠同時運(yùn)行ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設(shè)備時，不同平臺輸出的stdf、csv、log、jdf、spd、txt等格式數(shù)據(jù)往往難以統(tǒng)一處理。YMS系統(tǒng)通過內(nèi)置的多協(xié)議解析引擎，自動識別并適配各類測試平臺的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，將異構(gòu)原始數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為標(biāo)準(zhǔn)化內(nèi)部格式，消除因設(shè)備差異導(dǎo)致的信息割裂。模塊化接口設(shè)計(jì)確保新增設(shè)備可快速接入，無需重構(gòu)系統(tǒng)架構(gòu)。這種“即插即用”的兼容能力，使企業(yè)能集中管理全產(chǎn)線測試數(shù)據(jù)，避免為不同平臺維護(hù)多套分析流程。數(shù)據(jù)采集的穩(wěn)定性與實(shí)時性由此得到保障，為后續(xù)良率分析奠定一致基礎(chǔ)。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續(xù)優(yōu)化...

半導(dǎo)體制造過程中，良率數(shù)據(jù)的時效性與準(zhǔn)確性直接決定工藝優(yōu)化的效率。YMS系統(tǒng)通過自動采集ASL1000、SineTest、MS7000等測試平臺生成的多源數(shù)據(jù)，完成端到端的數(shù)據(jù)治理，消除因格式混亂或信息缺失導(dǎo)致的分析盲區(qū)。系統(tǒng)建立的標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，使生產(chǎn)團(tuán)隊(duì)能夠從時間軸觀察良率波動規(guī)律，或聚焦特定晶圓區(qū)域識別系統(tǒng)性缺陷，從而快速鎖定異常工序。SYL與SBL參數(shù)的自動計(jì)算與閾值卡控，為過程質(zhì)量提供前置預(yù)警。同時，系統(tǒng)內(nèi)置的報(bào)表引擎可一鍵生成周期性分析簡報(bào)，并以PPT、Excel或PDF形式輸出，便于管理層掌握產(chǎn)線健康狀態(tài)。這種數(shù)據(jù)驅(qū)動的管理模式，明顯提升了制造穩(wěn)定性與決策效率。上海偉諾信息科技有限...

在評估良率管理系統(tǒng)投入時，企業(yè)關(guān)注的不僅是初始采購成本，更是長期使用中的效率回報(bào)與服務(wù)保障。YMS系統(tǒng)提供模塊化配置方案，涵蓋軟件授權(quán)、必要定制、技術(shù)培訓(xùn)及持續(xù)運(yùn)維支持，確保部署后穩(wěn)定運(yùn)行與功能演進(jìn)。系統(tǒng)自動對接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等主流Tester設(shè)備，處理stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式數(shù)據(jù)，大幅減少人工清洗與整合工作量，降低隱性人力成本。透明的報(bào)價結(jié)構(gòu)避免隱性收費(fèi)，使預(yù)算規(guī)劃更可控。同時，系統(tǒng)內(nèi)置的SYL/SBL自動計(jì)算與卡控、多維度良率分析及靈活報(bào)表導(dǎo)出功能，直接支撐質(zhì)量決策效率提升。這種“一次投入、持續(xù)賦...

當(dāng)封測廠面臨多設(shè)備、多格式測試數(shù)據(jù)難以統(tǒng)一處理的困境時，YMS系統(tǒng)通過自動化采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等數(shù)據(jù)，完成重復(fù)性檢測、缺失值識別與異常過濾，明顯降低人工干預(yù)成本。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類，支持從時間趨勢到晶圓區(qū)域熱力圖的多維分析，幫助快速定位工藝波動點(diǎn)。SYL與SBL的自動計(jì)算與卡控機(jī)制嵌入關(guān)鍵控制節(jié)點(diǎn)，強(qiáng)化過程質(zhì)量防線。靈活報(bào)表工具可按模板生成日報(bào)、周報(bào)、月報(bào)，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，提升跨部門協(xié)同效率。系統(tǒng)報(bào)價覆蓋軟件授權(quán)、必要定...

良率管理系統(tǒng)的價值不僅在于技術(shù)實(shí)現(xiàn)，更在于對半導(dǎo)體企業(yè)關(guān)鍵痛點(diǎn)的精確回應(yīng)。當(dāng)設(shè)計(jì)公司或制造工廠面臨測試數(shù)據(jù)分散、格式混亂、分析滯后等問題時，YMS系統(tǒng)通過對接ETS364、SineTest、Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設(shè)備，自動完成從數(shù)據(jù)采集到異常過濾的全流程治理。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫為多維度分析奠定基礎(chǔ)，使時間趨勢、區(qū)域?qū)Ρ?、參?shù)關(guān)聯(lián)等洞察成為可能。例如，通過對比同一晶圓邊緣與中心區(qū)域的良率差異，可判斷光刻或刻蝕工藝的均勻性問題；結(jié)合FT與CP數(shù)據(jù)偏差，可追溯封裝環(huán)節(jié)的潛在風(fēng)險。SYL與SBL的自動計(jì)算功能，則為良率目標(biāo)達(dá)成提供量化依據(jù)。報(bào)表系統(tǒng)支持靈活配置與多格式導(dǎo)出，明顯降低...

ZPAT 是一種基于統(tǒng)計(jì)學(xué)的芯片篩選技術(shù)，通過在晶圓測試階段識別并剔除具有潛在缺陷的芯片，從而提升產(chǎn)品的可靠性。在實(shí)際的應(yīng)用過程中需要通過疊加多片Wafer找出在同一坐標(biāo)下失效的Die的比例，通過特定的算法從而評估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質(zhì)量零缺陷的一種手段。 為助力客戶應(yīng)對日益嚴(yán)苛的“零缺陷”質(zhì)量挑戰(zhàn)，上海偉諾信息科技有限公司將其先進(jìn)的ZPAT技術(shù)深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創(chuàng)新集成賦予用戶高度的靈活性與強(qiáng)大的分析能力，使其能夠通過一套高度可配置的流程，精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數(shù)超出統(tǒng)計(jì)控制界限的異常芯片，從而構(gòu)筑...

良率波動若不能及時干預(yù)，可能造成數(shù)百萬級的產(chǎn)能損失。YMS系統(tǒng)通過自動化流程，即時采集并清洗來自多種測試平臺的異構(gòu)數(shù)據(jù)，構(gòu)建高可信度分析基礎(chǔ)。系統(tǒng)支持從宏觀趨勢到微觀缺陷的穿透式分析，例如將某產(chǎn)品月度良率下降與特定封裝線關(guān)聯(lián)，并結(jié)合FT參數(shù)驗(yàn)證是否為打線偏移導(dǎo)致。SYL/SBL卡控機(jī)制設(shè)置動態(tài)閾值，在指標(biāo)異常時自動預(yù)警，實(shí)現(xiàn)前置質(zhì)量管控。多周期報(bào)表自動生成并支持多格式導(dǎo)出，使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源快速決策。這種“實(shí)時感知—智能歸因—主動干預(yù)”的能力，將良率管理從經(jīng)驗(yàn)驅(qū)動升級為數(shù)據(jù)驅(qū)動。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質(zhì)取勝”為準(zhǔn)則，持續(xù)打磨YMS的可靠性與實(shí)用性。Mapping Ove...

每日晨會前臨時整理良率報(bào)表，常因數(shù)據(jù)口徑不一引發(fā)爭議。YMS系統(tǒng)按預(yù)設(shè)模板自動生成日報(bào)、周報(bào)、月報(bào)，內(nèi)容涵蓋良率趨勢、區(qū)域缺陷分布、WAT/CP/FT關(guān)聯(lián)分析等關(guān)鍵指標(biāo)，并支持一鍵導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF格式。生產(chǎn)主管可用PPT版直接匯報(bào)，質(zhì)量工程師調(diào)取Excel原始數(shù)據(jù)深入挖掘，客戶審計(jì)則接收標(biāo)準(zhǔn)化PDF文檔。自動化流程消除手工匯總誤差，確保全公司使用同一套可靠數(shù)據(jù)。報(bào)告生成時間從數(shù)小時壓縮至分鐘級，大幅提升跨部門協(xié)同效率。上海偉諾信息科技有限公司通過靈活報(bào)表工具，讓數(shù)據(jù)真正服務(wù)于決策閉環(huán)。Mapping Over Ink處理推動數(shù)據(jù)驅(qū)動決策，取代經(jīng)驗(yàn)式質(zhì)量判斷。云南可視化PAT分散...

當(dāng)企業(yè)評估良率管理系統(tǒng)的投入產(chǎn)出比時，功能覆蓋度與服務(wù)適配性成為關(guān)鍵考量。YMS系統(tǒng)提供從基礎(chǔ)數(shù)據(jù)采集到深度分析的多級配置選項(xiàng)，可根據(jù)企業(yè)規(guī)模與業(yè)務(wù)復(fù)雜度靈活調(diào)整?；A(chǔ)模塊滿足自動化數(shù)據(jù)接入與清洗需求，高級功能則涵蓋多維度良率監(jiān)控、異常自動過濾及定制化報(bào)表生成。所有版本均支持主流測試平臺與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)格式，確保系統(tǒng)即插即用。價格策略注重透明與合理性，在控制初期投入的同時保障長期使用價值。配合完善的售前咨詢、售中方案優(yōu)化與售后標(biāo)準(zhǔn)化服務(wù)，系統(tǒng)全生命周期成本明顯降低。這種高性價比的部署模式，使企業(yè)在有限預(yù)算下仍能實(shí)現(xiàn)良率數(shù)據(jù)的閉環(huán)管理。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導(dǎo)體行業(yè)的深刻理解，為客戶提供兼具...

當(dāng)封測廠面臨多設(shè)備、多格式測試數(shù)據(jù)難以統(tǒng)一處理的困境時，YMS系統(tǒng)通過自動化采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等數(shù)據(jù)，完成重復(fù)性檢測、缺失值識別與異常過濾，明顯降低人工干預(yù)成本。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類，支持從時間趨勢到晶圓區(qū)域熱力圖的多維分析，幫助快速定位工藝波動點(diǎn)。SYL與SBL的自動計(jì)算與卡控機(jī)制嵌入關(guān)鍵控制節(jié)點(diǎn)，強(qiáng)化過程質(zhì)量防線。靈活報(bào)表工具可按模板生成日報(bào)、周報(bào)、月報(bào)，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，提升跨部門協(xié)同效率。系統(tǒng)報(bào)價覆蓋軟件授權(quán)、必要定...

在半導(dǎo)體設(shè)計(jì)與制造流程中，良率管理系統(tǒng)的價值體現(xiàn)在對復(fù)雜測試數(shù)據(jù)的高效整合與深度挖掘。系統(tǒng)自動對接多種測試設(shè)備輸出的異構(gòu)數(shù)據(jù)，完成清洗、去重與結(jié)構(gòu)化處理，構(gòu)建可靠的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。通過對WAT、CP、FT等關(guān)鍵工藝節(jié)點(diǎn)參數(shù)的聯(lián)動分析，系統(tǒng)能夠揭示潛在的工藝偏差或設(shè)計(jì)缺陷，為研發(fā)和制造團(tuán)隊(duì)提供可執(zhí)行的優(yōu)化建議。多維度圖表直觀呈現(xiàn)良率波動與缺陷分布，支持從批次到晶圓級別的精細(xì)追溯。報(bào)表功能滿足不同管理層級對數(shù)據(jù)呈現(xiàn)的多樣化需求，實(shí)現(xiàn)從現(xiàn)場到?jīng)Q策層的信息貫通。上海偉諾信息科技有限公司立足“以信為本，以質(zhì)取勝”的理念，持續(xù)打磨YMS產(chǎn)品，推動國產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)建設(shè)。Mapping Over Ink處理系統(tǒng)提...

為提升晶圓測試（CP測試）的質(zhì)量與可靠性，行業(yè)的關(guān)注點(diǎn)已從單一的電性性能測試，擴(kuò)展到電性與物理外觀并重的綜合質(zhì)量評估。因此，越來越多的公司在CP測試環(huán)節(jié)中，引入外觀檢測設(shè)備（AOI,AutomatedOpticalInspection），對晶圓上每個Die的表面進(jìn)行高精度、自動化的掃描與檢測，以識別并剔除那些存在裂紋、劃痕、污染、崩邊或缺損等物理缺陷的不良品。這種做法的價值在于，它彌補(bǔ)了傳統(tǒng)電性測試的盲區(qū)。一顆芯片可能電性參數(shù)測試“通過”，但其物理結(jié)構(gòu)已存在潛在損傷。這類“帶傷”的芯片在后續(xù)的封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用中有極高早期失效的風(fēng)險，是產(chǎn)品可靠性的重大隱患。通過AOI檢測，可以在晶圓階段就將這...

在智能制造轉(zhuǎn)型背景下，YMS已不僅是數(shù)據(jù)分析工具，更是連接測試與工藝優(yōu)化的中樞系統(tǒng)。系統(tǒng)實(shí)時匯聚來自ETS364、STS8107、93k等平臺的測試結(jié)果，自動完成結(jié)構(gòu)化清洗與整合，消除信息孤島。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫支持動態(tài)監(jiān)控良率變化，例如識別某機(jī)臺連續(xù)三批邊緣區(qū)域良率偏低，觸發(fā)設(shè)備校準(zhǔn)預(yù)警。SYL/SBL卡控功能則在指標(biāo)超限時自動攔截異常批次，防止不良品流入下一環(huán)節(jié)。報(bào)表引擎支持按產(chǎn)品線、客戶或班次生成定制化報(bào)告，適配不同管理層的信息需求。這種“采集—分析—干預(yù)—反饋”的閉環(huán)機(jī)制，明顯提升了生產(chǎn)過程的可控性與響應(yīng)速度。上海偉諾信息科技有限公司以打造中國半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命，持續(xù)完善YMS的集成能力。...